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N° de publication : WO/1997/013397 N° de la demande internationale : PCT/DE1996/001868
Date de publication : 17.04.1997 Date de dépôt international : 30.09.1996
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 30.04.1997
CIB :
G01N 23/20 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
20
en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
Déposants : MEYER, Dirk[DE/DE]; DE (UsOnly)
RICHTER, Kurt[DE/DE]; DE (UsOnly)
SEIDEL, Andreas[DE/DE]; DE (UsOnly)
TECHNISCHE UNIVERSITÄT DRESDEN[DE/DE]; Dezernat 5, SG 5.1 Mommsenstrasse 13 D-01069 Dresden, DE (AllExceptUS)
Inventeurs : MEYER, Dirk; DE
RICHTER, Kurt; DE
SEIDEL, Andreas; DE
Données relatives à la priorité :
195 36 707.330.09.1995DE
Titre (EN) X-RAY DIFFRACTOMETRY METHOD
(FR) PROCEDE DE DIFFRACTOMETRIE AUX RAYONS X
(DE) VERFAHREN ZUR RÖNTGENDIFFRAKTOMETRIE
Abrégé :
(EN) The invention concerns a method of obtaining an X-ray diffractogram with an X-ray diffractometer using an energy-resolving detector, influences from the operation of the diffractometer, detector properties and the background (radiation of energy other than that the useful radiation) being eliminated and full use being made of the available useful radiation (inter alia the characteristic radiation of an X-ray tube). In this way, the measuring time can be reduced to a quarter in comparison with an X-ray diffractometer using a crystal monochromator, whilst the measuring results have the same degree of statistical reliability. The method offers particular advantages for the measuring of weak reflexes in the presence of a high-energy background.
(FR) L'invention concerne un procédé permettant d'obtenir un diffractogramme aux rayons X avec un diffractomètre aux rayons X, à l'aide d'un détecteur à résolution en énergie. Les influences du mode opératoire du diffractomètre, des propriétés du détecteur et du fond (rayonnement provenant d'énergies autres que le rayonnement utile) sont éliminées et le rayonnement utile disponible (notamment le rayonnement caractéristique d'un tube à rayons X) est pleinement utilisé. Comparativement à un diffractomètre à rayons X faisant appel à un monochromateur à cristaux, le temps de mesure peut être réduit d'un quart, pour des résultats de mesure d'une fiabilité statistique identique. Ce procédé présente des avantages particuliers pour la mesure de faibles reflets en présence d'un fond à haute intensité énergétique.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Gewinnung eines Röntgendiffraktogramms mit einem Röntgendiffraktometer unter Verwendung eines energieauflösenden Detektors, wobei Einflüsse der Gerätefunktion des Diffraktometers, der Detektoreigenschaften und des Untergrundes (Strahlung anderer Energien als der Energie der Nutzstrahlung) eliminiert und die verfügbare Nutzstrahlung (i.A. die charakteristische Strahlung einer Röntgenröhre) vollständig ausgenutzt werden. Damit kann die Meßzeit im Vergleich zu einem Röntgendiffraktometer mit Kristallmonochromator bei gleicher statistischer Sicherheit der Meßergebnisse auf ein Viertel gesenkt werden. Besondere Vorteile bietet das Verfahren für die Messung schwacher Reflexe in Gegenwart eines hohen Untergrundes.
États désignés : CA, RU, US
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)