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1. (WO1997008595) DISPOSITIF POUR COMPENSER LES TOLERANCES DE GUIDAGE DANS DES POSITIONNEURS MULTIAXES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1997/008595    N° de la demande internationale :    PCT/DE1996/001149
Date de publication : 06.03.1997 Date de dépôt international : 28.06.1996
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.02.1997    
CIB :
B23Q 1/62 (2006.01), B23Q 17/24 (2006.01), G05B 19/401 (2006.01)
Déposants : HESSE GMBH [DE/DE]; Vattmannstrasse 6, D-33100 Paderborn (DE) (Tous Sauf US).
HESSE, Hans-Jürgen [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : HESSE, Hans-Jürgen; (DE)
Mandataire : LIPPERT, STACHOW, SCHMIDT & PARTNER; P.O. Box 19 24 38, D-01282 Dresden (DE)
Données relatives à la priorité :
195 31 676.2 29.08.1995 DE
Titre (DE) VORRICHTUNG ZUM FÜHRUNGSTOLERANZAUSGLEICH BEI MEHRACHSENPOSITIONIERERN
(EN) DEVICE FOR COMPENSATING GUIDE TOLERANCE IN MULTI-AXIS POSITIONERS
(FR) DISPOSITIF POUR COMPENSER LES TOLERANCES DE GUIDAGE DANS DES POSITIONNEURS MULTIAXES
Abrégé : front page image
(DE)Vorrichtung zum Führungstoleranzausgleich an Mehrachsenpositionierern, wobei auf einem ersten Führungsträger (FX) bezüglich einer ersten Achse (X) ein zweiter Führungsträger (FY) durch einen zugehörigen Positionierantrieb (MX) verschieblich oder verschwenkbar gelagert ist und an dem zweiten Führungsträger (FY) bezüglich einer zweiten Achse (Y) ein weiterer Führungsträger oder ein Objekt (O) durch einen zugehörigen Positionierantrieb (MY) verschieblich oder verschwenkbar gelagert ist und die jeweilige Verschiebung auf den Führungsträgern (FX, FY) durch eine jeweils zugehörige Koordinatenmeßvorrichtung (APX, APY) laufend ermittelt wird, wobei auf den Führungsträgern (FX, FY) jeweils mindestens ein Meßstrahler (S1-S4) mit enger Apertur parallel zur Führung ausgerichtet angeordnet ist und an dem jeweils geführten Teil (FY, O) von den einzelnen Meßstrahlen beaufschlagt jeweils eine Abweichungsmeßvorrichtung (AMX, AMY, AMZ1, AMZ2) so angeordnet ist, daß deren Abweichungsmeßsignal (SMX, SMY, SMZ1, SMZ2) jeweils mindestens eine Lageabweichung quer zur Richtung des auftreffenden Meßstrahls signalisiert.
(EN)A device for compensating guide tolerance in multi-axis positioners in which a second guide substrate (FY) can be moved or pivoted on a first guide substrate (FX) in relation to a first axis (X) and a further guide substrate or an object (O) can move or pivot via an appropriate positioning drive (MY) on the second guide substrate (FY) in relation to a second axis (Y) and the movement on the guide substrates (FX, FY) is continuously detected by an appropriate coordinate measuring device (APX, APY), where at least one measuring emitter (S1-S4) with a narrow aperture is fitted on the guide substrates (FX, FY) oriented parallel to the guide, and on the guided component (FY, O) on which the individual measuring beams impinge is arranged a deviation measuring device (AMX, AMY, AMZ1, AMZ2) in such a way that its deviation measurement signal (SMX, SMY, SMZ1, SMZ2) indicates at least one position deviation transversely to the direction of the impinging measuring beam.
(FR)L'invention concerne un dispositif pour compenser les tolérances de guidage dans des positionneurs multiaxes, dans lequel un deuxième support de guidage (FY) peut se déplacer ou pivoter sur un premier support de guidage (FX) par rapport à un premier axe (X), et un autre support de guidage ou un objet (O) peut se déplacer ou pivoter, par l'intermédiaire d'un système d'entraînement de positionneur approprié (MY) sur le deuxième support de guidage (FY) par rapport à un deuxième axe (Y). Le mouvement sur les supports de guidage (FX, FY) est détecté en continu par un dispositif de mesure de coordonnées approprié (APX, APY), au moins un émetteur de faisceaux de mesure (S1-S4) doté d'une ouverture étroite étant monté sur les supports de guidage (FX, FY), avec une orientation parallèle par rapport au guide. Un dispositif de mesure d'écart (AMX, AMY, AMZ1, AMZ2) est disposé sur la pièce guidée (FY, O) recevant les différents faisceaux de mesure, de telle manière que son signal de mesure d'écart (SMX, SMY, SMZ1, SMZ2) indique au moins un écart de position transversalement par rapport au sens du faisceau de mesure incident.
États désignés : AL, AM, AT, AU, AZ, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HU, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US, UZ, VN.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (KE, LS, MW, SD, SZ, UG)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)