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1. (WO1997008518) JAUGE DE NIVEAU UTILISANT UN FIL DETECTEUR SUPRACONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1997/008518    N° de la demande internationale :    PCT/JP1995/001722
Date de publication : 06.03.1997 Date de dépôt international : 30.08.1995
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    01.12.1995    
CIB :
G01F 23/24 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6, Kanda Surugadai 4-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 101 (JP) (Tous Sauf US).
TOMEOKU, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MORITA, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YAMAGUCHI, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAHASHI, Ryukichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MAKI, Naoki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TOMEOKU, Hiroshi; (JP).
MORITA, Hiroshi; (JP).
YAMAGUCHI, Kiyoshi; (JP).
TAKAHASHI, Ryukichi; (JP).
MAKI, Naoki; (JP)
Mandataire : OGAWA, Katsuo; Hitachi, Ltd., 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) LEVEL GAUGE USING SUPERCONDUCTIVE SENSOR WIRE
(FR) JAUGE DE NIVEAU UTILISANT UN FIL DETECTEUR SUPRACONDUCTEUR
Abrégé : front page image
(EN)A level gauge using a superconductive sensor wire, wherein the mechanical strength and sensitivity of a sensor are high. The level gauge is manufactured easily. The superconductive wire of this level gauge is provided in the shape of the letter 'U' or 'V', or a plurality of such wires are connected in series. The connection portion of a measuring lead wire is provided on the normal conductive generation side.
(FR)Jauge de niveau utilisant un fil détecteur supraconducteur, dans laquelle la résistance mécanique et la sensibilité d'un détecteur sont élevées. La jauge de niveau est d'une fabrication facile. Le fil supraconducteur de cette jauge de niveau présente la forme de la lettre 'U' ou 'V', ou bien une pluralité de ces fils sont connectées en séries. La partie de connexion d'un fil de connexion de mesure est ménagée sur le côté générateur conducteur normal.
États désignés : CN, JP, KR, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)