WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1997002590) ANALYSEUR D'ECHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1997/002590    N° de la demande internationale :    PCT/GB1996/001592
Date de publication : 23.01.1997 Date de dépôt international : 02.07.1996
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.02.1997    
CIB :
H01J 37/256 (2006.01), H01J 49/14 (2006.01), H01J 49/40 (2006.01)
Déposants : IONOPTIKA LIMITED [GB/GB]; Chilworth Research Center, Suite 8a, 2 Venture Road, Southampton SO16 7NP (GB) (Tous Sauf US).
HILL, Rowland [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
BLENKINSOPP, Paul, William, Miles [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : HILL, Rowland; (GB).
BLENKINSOPP, Paul, William, Miles; (GB)
Mandataire : COLGAN, Stephen, James; Carpmaels & Ransford, 43 Bloomsbury Square, London WC1A 2RA (GB)
Données relatives à la priorité :
9513586.9 04.07.1995 GB
Titre (EN) SAMPLE ANALYZER
(FR) ANALYSEUR D'ECHANTILLONS
Abrégé : front page image
(EN)A sample analyzer comprising a time-of-flight mass spectrometer, guiding means for guiding the primary beam of the mass spectrometer onto the sample and through which the secondary beam (from the sample) passes, and switching means for switching the guiding means between a first condition for guiding the primary beam and a second condition for guiding the secondary beam. The guiding means may be a focusing means for focusing the primary and secondary beams or a steering means to steer the primary beam across the sample in a raster pattern.
(FR)Cette invention concerne un analyseur d'échantillons comportant un spectromètre de masse à temps de vol, un organe de guidage qui sert à guider un faisceau primaire du spectromètre de masse à la surface de l'échantillon et au travers duquel passe le faisceau secondaire (en provenance de l'échantillon), ainsi qu'un organe de commutation qui sert à faire basculer l'organe de guidage entre un premier état destiné au guidage du faisceau primaire et un second état destiné au guidage du second faisceau. L'organe de guidage peut être soit un organe de focalisation qui permet de focaliser les faisceaux primaire et secondaire soit un organe de direction qui permet de diriger le faisceau primaire à travers l'échantillon selon un motif matriciel.
États désignés : AL, AM, AT, AU, AZ, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US, UZ, VN.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (KE, LS, MW, SD, SZ, UG)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)