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1. (WO1997000455) PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION DE LA DISTANCE ENTRE UNE BASE ET UNE SURFACE REFLECHISSANTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1997/000455    N° de la demande internationale :    PCT/EP1996/002567
Date de publication : 03.01.1997 Date de dépôt international : 14.06.1996
CIB :
G01C 3/10 (2006.01), G01S 17/46 (2006.01)
Déposants : JURCA OPTOELEKTRONIK GMBH [DE/DE]; Raiffeisenstrasse 5, D-63110 Rodgau 1 (DE) (Tous Sauf US).
JURCA, Marius, Christian [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : JURCA, Marius, Christian; (DE)
Mandataire : URNER, Peter; Ter Meer-Müller-Steinmeister & Partner, Mauerkircherstrasse 45, D-81679 München (DE)
Données relatives à la priorité :
195 21 961.9 16.06.1995 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DES ABSTANDS ZWISCHEN EINER BASIS UND EINER SPIEGELNDEN OBERFLÄCHE
(EN) PROCESS AND DEVICE FOR DETERMINING THE DISTANCE BETWEEN A BASE AND A REFLECTING SURFACE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION DE LA DISTANCE ENTRE UNE BASE ET UNE SURFACE REFLECHISSANTE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung des Abstands (h) zwischen einer Basis (1) und einer spiegelnden Oberfläche (2) eines Gegenstands (3). Das Verfahren basiert auf der Vermessung der direkten Reflexion von Strahlung einer ersten Lichtquelle (4) mit einem ersten Detektor (5) und der Vermessung von Strahlung einer sich wenigstens annähernd am Ort des ersten Detektors (5) befindlichen zweiten Lichtquelle (6) mit einem sich wenigstens annähernd am Ort der ersten Lichtquelle (4) befindlichen zweiten Detektor (7), um dann mit der bekannten Geometrie des Aufbaus und den erhaltenen Meßwerten für die Erscheinungswinkel ($g(g), $g(a)) der virtuellen Bilder der Lichtquellen (4, 6) die Lage der zu messenden spiegelnden Oberfläche (2) gegenüber der Basis (1) zu ermitteln.
(EN)A process and device are disclosed for determining the distance (h) between a base (1) and a reflecting surface (2) of an object (3). The direct reflection of the radiation from a first light source (4) is measured by a first detector (5) and the radiation from a second light source (6) located at least approximately at the same place as the first detector (5) is measured by a second detector (7) located at least approximately at the same place as the first light source (4). The position of the reflecting surface (2) relative to the base (1) is then determined based on the known geometry of the structure and the measurement values for the apparent angles ($g(g), $g(a)) formed by the virtual images of the light sources (4, 6).
(FR)Le procédé et le dispositif décrits servent à déterminer la distance (h) entre une base (1) et une surface réfléchissante (2) d'un objet (3). Un premier détecteur (5) mesure le reflet direct du rayonnement émis par une première source de lumière (4) et un deuxième détecteur (7), situé au moins approximativement au même endroit que la première source de lumière (4), mesure le rayonnement émis par une deuxième source de lumière (6) située au moins approximativement au même endroit que le premier détecteur (5). La position de la surface réfléchissante (2) est alors déterminée par rapport à la base (1) compte tenu de la géométrie connue de la structure et des valeurs de mesure des angles apparents ($g(g), $g(a)) formés par les images virtuelles des sources de lumière (4, 6).
États désignés : CA, CN, JP, KR, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)