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1. (WO1996001434) PROCEDE DE TEST DE CIRCUIT ELECTRONIQUE A BASCULE MAITRE-ESCLAVE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1996/001434    N° de la demande internationale :    PCT/IB1995/000527
Date de publication : 18.01.1996 Date de dépôt international : 29.06.1995
CIB :
G01R 31/30 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01), G06F 11/267 (2006.01)
Déposants : PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL).
PHILIPS NORDEN AB [SE/SE]; Kottbygatan 5, Kista, S-164 85 Stockholm (SE) (SE only)
Inventeurs : SACHDEV, Manoj; (NL)
Mandataire : VERDONK, Peter, Lambert, Frans, Maria; Internationaal Octrooibureau B.V., P.O. Box 220, NL-5600 AE Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
94201929.0 05.07.1994 EP
95200212.9 30.01.1995 EP
Titre (EN) A METHOD OF TESTING AND AN ELECTRONIC CIRCUIT COMPRISING A FLIPFLOP WITH A MASTER AND A SLAVE
(FR) PROCEDE DE TEST DE CIRCUIT ELECTRONIQUE A BASCULE MAITRE-ESCLAVE
Abrégé : front page image
(EN)A flipflop has master and slave interconnected through a buffer. The master has its inverters located outside the signal path from input to output, as the buffer provides the driving capability required for both I¿DDQ?-testing and operational use. This configuration enables I¿DDQ?-testing without further circuitry added to the flipflop and reduces propagation delay in the signal path.
(FR)La présente invention concerne le montage maître-esclave d'une bascule comportant un tampon. Les inverseurs du maître sont extérieurs à la voie de signal entrée-sortie étant donné que c'est du tampon que proviennent les potentialités d'attaque nécessaires tant au test I¿DDQ? qu'au fonctionnement opérationnel. Cette configuration permet l'exécution du test I¿DDQ? sans ajout de circuit électronique à la bascule et réduit les temps de propagation dans la voie de signal.
États désignés : CN, JP, KR.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)