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1. (WO1996000954) SYSTEME DE COMPARAISON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1996/000954    N° de la demande internationale :    PCT/EP1995/002504
Date de publication : 11.01.1996 Date de dépôt international : 27.06.1995
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.01.1996    
CIB :
G06T 7/00 (2006.01), H04N 3/15 (2006.01)
Déposants : APPLITEC LTD. [IL/IL]; 12 Haorgim Street, 58105 Holon (IL) (Tous Sauf US).
MERON, Gabriel, David [GB/IL]; (IL) (Tous Sauf US).
FRAIER, Israel [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : FRAIER, Israel; (IL)
Mandataire : KRAUS, Walter; Kraus, Weisert & Partner, Thomas-Wimmer-Ring 15, D-80539 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
110145 28.06.1994 IL
Titre (EN) COMPARISON SYSTEM
(FR) SYSTEME DE COMPARAISON
Abrégé : front page image
(EN)A method for 2- or 3-dimensional image information capturing, with and without image comparison. The method is based on the formation of a plurality of images of parts of the object, which partially overlap and which add up to the coverage of the entire object, with partial overlap of adjacent images, such imaging being via a plurality of imaging area sensors and imaging optics. Such partial image formation is repeated, if desired, respective a master, and comparison can be made by processing, analyzing and comparing the corresponding image pairs of master/object and object/object. Sensors can be arranged in a plane or in a spatial arrangement, according to the shape of the inspected object. There may be used sensors with a sensitivity in one or more specific spectral regions.
(FR)Procédé de capture d'informations sous forme d'images bi ou tridimensionnelles, avec ou sans comparaison d'images, basé sur la formation d'une pluralité d'images représentant des parties de l'objet, images qui se chevauchent partiellement et s'additionnent pour réaliser la couverture de l'objet entier, avec un chevauchement partiel d'images adjacentes, une telle formation d'images s'effectuant à l'aide d'une pluralité de capteurs d'images bidimensionnels et d'optique d'imagerie. On répète une telle formation partielle d'image, si nécessaire, par rapport à une image de référence, et on peut faire la comparaison entre celles-ci en traitant, analysant et comparant les paires d'images correspondantes image de référence/objet et objet/objet. On peut placer les capteurs sur un même plan ou dans une configuration spatiale, en fonction de la forme de l'objet inspecté. On peut utiliser des capteurs possédant une sensibilité dans un ou plusieurs domaine(s) spectral(aux) spécifique(s).
États désignés : AU, CA, CZ, FI, HU, JP, KR, LK, MX, NZ, PL, PT, RO, RU, SK, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)