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1. WO1995020767 - CONTROLE CAPACITIF DE CIRCUIT OUVERT FAISANT APPEL A UNE DETERMINATION DE SEUIL AMELIOREE

Numéro de publication WO/1995/020767
Date de publication 03.08.1995
N° de la demande internationale PCT/US1995/001145
Date du dépôt international 26.01.1995
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 17.08.1995
CIB
G01R 31/312 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
302Test sans contact
312par des méthodes capacitives
CPC
G01R 31/312
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
302Contactless testing
312by capacitive methods
Déposants
  • GENRAD, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • KHAZAM, Moses
  • BLUMENAU, Steven, M.
Mandataires
  • CESARI, Robert, A.
  • BORN, Joseph, H.
Données relatives à la priorité
08/188,38527.01.1994US
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) CAPACITIVE OPEN-CIRCUIT TEST EMPLOYING AN IMPROVED THRESHOLD DETERMINATION
(FR) CONTROLE CAPACITIF DE CIRCUIT OUVERT FAISANT APPEL A UNE DETERMINATION DE SEUIL AMELIOREE
Abrégé
(EN) In a method for testing whether a pin (12) of an electronic component (14) on a circuit board under test (18) has been properly connected to a circuit board track (16), a source (20) drives the track (16) and a capacitive probe (34) located above the component (14) generates a resultant output. The pin (12) is determined to be connected correctly if that output exceeds a threshold determined for that pin (12) during a training process in which similar measurements have been made on a known good board for that pin and other pins on the same electronic device. The threshold is determined by dividing the capacitance measurement made during the training process for that pin into connection-dependent and connection-independent parts, the latter being the part that would result even in the absence of a proper pin connection. Determination of the pin-independent part is made, without disconnecting the pin in question, by operations that take advantage of symmetries in the pattern of lead-frame conductors predominately responsible for the connection-dependent component of the measured capacitance. The threshold is the sum of the connection-independent part and a percentage of the connection-dependent part.
(FR) Selon un procédé permettant de contrôler si une broche (12) d'un composant électronique (14) placé sur une carte à circuit imprimé (18) soumis à un contrôle a été connectée correctement à une piste de carte à circuit imprimé (16), une source (20) excite la piste (16) et une sonde capacitive (34) située au-dessus du composant (14) génère un signal de sortie fonction de la connexion de la broche (12). La connexion de la broche (12) est considérée comme étant correcte si ledit signal de sortie dépasse un seuil déterminé pour ladite broche (12) lors d'une période de formation pendant laquelle des mesures similaires ont été effectuées sur une carte dont on est sûre qu'elle est correcte, ladite broche et d'autres broches, sur le même dispositif électronique. Le seuil est déterminé par division de la mesure de capacité effectuée pendant la période de formation pour ladite broche en une partie dépendante et une partie indépendante de la connexion, la dernière représentant la partie qui serait obtenue même en l'absence d'une connexion correcte de la broche. On détermine la partie indépendante de la broche sans déconnecter la broche concernée, par des opérations se fondant sur des symétries dans la configuration des conducteurs de la grille de connexion reliés de façon prédominante au composant dépendant de la connexion de la capacité mesurée. Le seuil est la somme de la partie indépendante de la connexion et d'un pourcentage de la partie dépendante de la connexion.
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