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1. WO1995012882 - PROCEDE ET APPAREIL D'EXTRACTION DE DONNEES NUMERIQUES A PARTIR D'UN SUPPORT DE STOCKAGE MAGNETIQUE

Numéro de publication WO/1995/012882
Date de publication 11.05.1995
N° de la demande internationale PCT/EP1993/003079
Date du dépôt international 03.11.1993
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 27.05.1995
CIB
G11B 5/33 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
BENREGISTREMENT DE L'INFORMATION BASÉ SUR UN MOUVEMENT RELATIF ENTRE LE SUPPORT D'ENREGISTREMENT ET LE TRANSDUCTEUR
5Enregistrement par magnétisation ou démagnétisation d'un support d'enregistrement; Reproduction par des moyens magnétiques; Supports d'enregistrement correspondants
127Structure ou fabrication des têtes, p.ex. têtes à variation d'induction
33Structure ou fabrication de têtes sensibles à un flux
G11B 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
BENREGISTREMENT DE L'INFORMATION BASÉ SUR UN MOUVEMENT RELATIF ENTRE LE SUPPORT D'ENREGISTREMENT ET LE TRANSDUCTEUR
11Enregistrement sur, ou reproduction depuis le même support d'enregistrement, dans lesquels, pour ces deux opérations, les procédés ou les moyens sont couverts par différents groupes principaux des groupes G11B3/-G11B7/257; Supports d'enregistrement correspondants
G11B 11/10 2006.01
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
BENREGISTREMENT DE L'INFORMATION BASÉ SUR UN MOUVEMENT RELATIF ENTRE LE SUPPORT D'ENREGISTREMENT ET LE TRANSDUCTEUR
11Enregistrement sur, ou reproduction depuis le même support d'enregistrement, dans lesquels, pour ces deux opérations, les procédés ou les moyens sont couverts par différents groupes principaux des groupes G11B3/-G11B7/257; Supports d'enregistrement correspondants
10utilisant l'enregistrement par magnétisation ou démagnétisation
CPC
B82Y 10/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
82NANOTECHNOLOGY
YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
10Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
G11B 11/007
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
11Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
002using recording by perturbation of the physical or electrical structure
007with reproducing by means directly associated with the tip of a microscopic electrical probe as defined in G11B9/14
G11B 11/10
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
11Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
10using recording by magnetic means ; or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
G11B 5/33
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
5Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, ; i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
Y10S 977/86
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
977Nanotechnology
84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
849with scanning probe
86Scanning probe structure
Y10S 977/861
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
977Nanotechnology
84Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
849with scanning probe
86Scanning probe structure
861Scanning tunneling probe
Déposants
  • INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION [US]/[US] (AllExceptUS)
  • IBM DEUTSCHLAND INFORMATIONS SYSTEME GMBH [DE]/[DE] (AT)
  • DUERIG, Urs, Th. [CH]/[CH] (UsOnly)
  • ALLENSPACH, Rolf [CH]/[CH] (UsOnly)
  • GRUETTER, Peter [CH]/[CH] (UsOnly)
Inventeurs
  • DUERIG, Urs, Th.
  • ALLENSPACH, Rolf
  • GRUETTER, Peter
Mandataires
  • BARTH, Carl, O.
Données relatives à la priorité
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR RETRIEVING DIGITAL DATA FROM A MAGNETIC STORAGE MEDIUM
(FR) PROCEDE ET APPAREIL D'EXTRACTION DE DONNEES NUMERIQUES A PARTIR D'UN SUPPORT DE STOCKAGE MAGNETIQUE
Abrégé
(EN)
An apparatus and a method for retrieving data stored on a magnetic medium with a high resolution is described. It is characterized by measuring a tunneling current which is partly depending on the magnetization of the medium (1). This dependence is caused by irradiating the medium (1) with polarized non-ionizing light. The tunneling current can be measured with a high lateral resolution by applying a probing tip (2) as known from conventional scanning tunneling microscopy or related techniques.
(FR)
Appareil et procédé permettant d'extraire, avec une résolution élevée, des données stockées sur un support magnétique. Le procédé se caratérise en ce qu'on mesure un courant à effet tunnel qui dépend partiellement de la magnétisation du support (1). Cette association courant/magnétisation est obtenue par l'exposition du support (1) à une lumière polarisée non ionisante. Le courant à effet tunnel peut être mesuré avec une résolution latérale élevée par l'application d'une pointe de sondage (2) telle qu'utilisée dans la microscopie à balayage et à effet tunnel classique, ou selon des techniques connexes.
Également publié en tant que
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