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1. (WO1994015172) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA MESURE DE LA GEOMETRIE DE SURFACES DE PRODUITS TECHNIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/1994/015172 N° de la demande internationale : PCT/DE1993/001233
Date de publication : 07.07.1994 Date de dépôt international : 22.12.1993
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 16.07.1994
CIB :
G01B 7/34 (2006.01) ,G01B 11/30 (2006.01)
Déposants : KLÖDEN, Rolf[DE/DE]; DE (UsOnly)
MICROSPACE MESS- UND SENSORTECHNIK GMBH[DE/DE]; Gutsweg 2 D-09221 Klaffenbach, DE (AllExceptUS)
Inventeurs : KLÖDEN, Rolf; DE
Mandataire : FINDEISEN, Andreas ; Oberfrohnaer Strasse 140 D-09117 Chemnitz, DE
Données relatives à la priorité :
P 42 44 332.628.12.1992DE
Titre (EN) PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING GEOMETRIES OF TECHNICAL SURFACES
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA MESURE DE LA GEOMETRIE DE SURFACES DE PRODUITS TECHNIQUES
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON GEOMETRIEN TECHNISCHER OBERFLÄCHEN
Abrégé :
(EN) The invention relates to a process and device for measuring geometries of technical surfaces. The aim achieved is to provide a process by means of which the surface geometries of technical products can be measured three-dimensionally in a single step and in a very short time. A device for implementing the process is also proposed to determine the surface roughness in three-dimensional space taking account of the transverse and longitudinal roughness. The longitudinal information on the surface is converted per surface into optical information and all points are virtually simultaneously recorded via a CCD matrix.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif pour la mesure de formes de surfaces de produits techniques. L'invention concerne un procédé permettant de mesurer, en un temps très court et en une seule phase de mesure, en trois dimensions, la géométrie de surfaces de produits techniques. L'invention a également pour objet un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé, avec lequel la détermination de la rugosité s'effectue dans un espace à trois dimensions, en tenant compte de la rugosité transversale et de la rugosité longitudinale. Les informations relatives à la surface par rapport à sa longueur sont converties bidimensionnellement, par surface, en informations optiques et, par l'intermédiaire d'une matrice CCD, tous les points sont enregistrés sensiblement simultanément.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung von Geometrien technischer Oberflächen. Es wird die Aufgabe gelöst, ein Verfahren zu schaffen, mit welchem Oberflächengeometrien technischer Erzeugnisse in sehr kurzer Zeit dreidimensional in einem einzigen Meßschritt erfaßt werden können. Weiterhin wird eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens vorgeschlagen, wobei die Bestimmung der Oberflächenrauheit im dreidimensionalen Raum unter Berücksichtigung der Quer- und Längsrauheit erfolgt. Die Längeninformation der Oberfläche wird flächenhaft in eine optische Information umgewandelt und über eine CCD-Matrix werden alle Punkte nahezu gleichzeitig erfaßt.
États désignés : JP, US
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)