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1. (WO1994014137) SYSTEME D'IMAGERIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1994/014137    N° de la demande internationale :    PCT/US1993/012006
Date de publication : 23.06.1994 Date de dépôt international : 10.12.1993
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    25.05.1994    
CIB :
G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : GRAVELY RESEARCH CORPORATION [US/US]; 7001 Buckhead Drive, Raleigh, NC 27609 (US) (Tous Sauf US).
GRAVELY, Benjamin, T. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : GRAVELY, Benjamin, T.; (US)
Mandataire : ROSENTHAL, Robert, G.; Rosenthal & Putterman, 5856 Faringdon Place, Raleigh, NC 27609 (US)
Données relatives à la priorité :
07/990,030 14.12.1992 US
Titre (EN) IMAGING SYSTEM
(FR) SYSTEME D'IMAGERIE
Abrégé : front page image
(EN)An improved imaging system operates at the diffraction limit of the optics to which it is connected and outputs a signal representative of the sample (S) lying in the sample plane (17). The imaging system comprises a cathode ray tube (30), an optical lens system and a means for sensing (40). The cathode ray tube (30) comprises an electron gun (34) for generating an electron beam (35) in a raster pattern. The raster pattern comprises a predetermined number of horizontal lines that are spaced vertically from each other a predetermined and equal distance. The electron beam is adapted to produce an illuminated spot (39) that scans correspondingly in the raster pattern and wherein the spot (39) is positioned inan object plane (26). The optical lens system focuses in a diffraction limited manner, the object plane (26) on to the sample plane (17), such that the image of the spot (39) is the smallest diffraction limited size as determined by the optical lens system. The imaging system also includes zoom and contrast enhancement/suppression capabilities.
(FR)Un système d'imagerie amélioré fonctionne à la limite de diffraction de l'optique à laquelle elle est reliée et émet un signal représentant l'échantillon (S) se trouvant dans le plan (17) de l'échantillon. Le système d'imagerie comprend un tube à rayon cathodique (30), un système de lentilles optiques et un moyen de détection (40). Le tube à rayon cathodique (30) comprend un canon à électrons (34) servant à générer un faisceau d'électrons (35) selon une trame. Ladite trame comprend un nombre prédéterminé de lignes horizontales, équidistantes les unes des autres, dans le sens vertical, la distance les séparant étant prédéterminée. Le faisceau d'électrons est adapté pour produire un point éclairé (39) qui effectue un balayage correspondant à la trame et qui est placé dans le plan (26) de l'objet. Le système de lentilles optiques focalise, en fonction des limites de diffraction, le plan (26) de l'objet sur le plan (17) de l'échantillon, de sorte que l'image du point (39) ait la taille la plus petite correspondante aux limites de diffraction, cette taille étant déterminée par le système de lentilles optiques. Le système d'imagerie comprend également des moyens permettant d'effectuer un zoom et de supprimer ou de renforcer le contraste.
États désignés : AT, AU, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CZ, DE, DK, ES, FI, GB, HU, JP, KP, KR, KZ, LK, LU, MG, MN, MW, NL, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SK, UA, US, VN.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)