WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1994014078) PROCEDE ET APPAREIL POUR DETERMINER LES PROPRIETES ELECTRIQUES CARACTERISTIQUES DE MATERIAUX SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1994/014078    N° de la demande internationale :    PCT/DK1993/000410
Date de publication : 23.06.1994 Date de dépôt international : 07.12.1993
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.06.1994    
CIB :
G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : VIS^¿C^¿OR, Petr [CZ/DK]; (DK).
VEDDE, Jan [DK/DK]; (DK)
Inventeurs : VIS^¿C^¿OR, Petr; (DK).
VEDDE, Jan; (DK)
Mandataire : LEHMANN & REE A/S; Grundtvigsvej 37, DK-1864 Frederiksberg C (DK)
Données relatives à la priorité :
1466/92 07.12.1992 DK
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING CHARACTERISTIC ELECTRICAL PROPERTIES OF SEMI-CONDUCTING MATERIALS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR DETERMINER LES PROPRIETES ELECTRIQUES CARACTERISTIQUES DE MATERIAUX SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method for determining characteristic electrical properties of semi-conducting materials wherein the time/frequency dependent electrical impedance or admittance of the material is measured. The invention also relates to an apparatus for carrying out the method. A number of bulk and surface parameters characterize the electrical properties of a given piece of material. These parameters include the dielectric constant $g(e) of the material, the difference $g(D)$g(m)?ch¿ in the chemical potential of the bulk of a material and the chemical potential of its surface and/or of metal electrode - material surface interface, the density of the majority and minority electrical mobile charge carriers N and N¿min?, respectively, in the bulk of the material, the electrical mobility $g(m) of the majority electrical mobile charges in the bulk of the material and the electrical mobility $g(m)¿min? of minority mobile charge carriers, the surface and bulk emission and capture rates E.R. and C.R., respectively, for mobile positive and negative charge carriers characterizing the effect of surface and bulk localized states within the band gap, when they are present, on the electrical transport.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour déterminer les propriétés électriques caractéristiques des matériaux semi-conducteurs, où l'on mesure l'impédance électrique ou l'admittance dépendantes du temps/de la fréquence. L'invention concerne également un appareil pour mettre en oeuvre le procédé. Un certain nombre de paramètres volumiques et de surface caractérisent les propriétés électriques d'un matériau donné. Parmi ces paramètres, il y a : la constante diélectrique $g(e) du matériau; la différence $g(D)$g(m)?ch¿ entre le potentiel chimique de la masse du matériau et le potentiel chimique sur sa surface et/ou sur l'interface électrode métallique - surface du matériau; la densité des porteurs de charges mobiles majoritaires et minoritaires dans la masse du matériau, respectivement N et N¿min?; la mobilité électrique $g(m) des charges électriques mobiles majoritaires dans la masse du matériau et la mobilité électrique $g(m)¿min? des porteurs de charge mobiles minoritaires, les débits d'émission et de capture en surface et dans la masse, des porteurs de charge positifs et négatifs, caractérisant l'effet sur le transport électrique d'états localisés de la surface et de la masse dans la bande interdite, lorsque ces états se produisent.
États désignés : AT, AU, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CZ, DE, DK, ES, FI, GB, HU, JP, KP, KR, KZ, LK, LU, LV, MG, MN, MW, NL, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SK, UA, US, UZ, VN.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)