Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO1994007165 - ELEMENT VARIABLE D'INTEFERENCE PAR REFLEXION D'APRES MIRAU

Numéro de publication WO/1994/007165
Date de publication 31.03.1994
N° de la demande internationale PCT/DE1993/000866
Date du dépôt international 15.09.1993
CIB
G02B 21/00 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
CPC
G02B 21/00
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
Déposants
  • LEICA MIKROSKOPIE UND SYSTEME GMBH [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • STANKEWITZ, Hans-Werner [DE]/[DE] (UsOnly)
Inventeurs
  • STANKEWITZ, Hans-Werner
Données relatives à la priorité
P 42 31 069.517.09.1992DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VARIABLER AUFLICHT-INTERFERENZANSATZ NACH MIRAU
(EN) VARIABLE MIRAU REFLECTED LIGHT INTERFERENCE MICROSCOPY ACCESSORY
(FR) ELEMENT VARIABLE D'INTEFERENCE PAR REFLEXION D'APRES MIRAU
Abrégé
(DE)
Es wird ein Auflicht-Interferenzansatz nach Mirau beschrieben, der als Zweistrahl-Interferenz-Einrichtung in Form eines Ansatz-Moduls (12) am Objektiv (1) eines Mikroskops adaptierbar ist. Der Ansatz weist einen Referenzspiegel (6) und mehrere Teilerspiegel (8a-8d) auf, die auf einer Revolverscheibe (7) aufbebracht sind. Die Teilerspiegel (8a-8d) weisen spezielle Reflexions-/Transmissions-Charakteristiken (R/T-Werte) auf, insbesondere 20/80, 35/65, 43/57 und 50/50. Der Referenzspiegel (6) weist beispielsweise eine Reflektivität von 85 % auf. Durch die erfindungsgemäße Einrichtung können Objekte (4) unterschiedlichster Reflexions-Werte ohne Helligkeitsprobleme beobachtet und vermessen werden.
(EN)
A mirau reflected light interference microscopy accessory can be adapted asa two-beam interference accessory module (12) on the objective (1) of a microscope. The accessory has a reference mirror (6) and several separating mirrors (8a-8d) arranged on a revolving disk (7). The separating mirrors (8a-8d) have special reflection/transmission characteristics (R/T-values), in particular 20/80, 35/65, 43/57 and 50/50. The reference mirror (6) has for example 85 % reflectivity. This accessory allows objects (4) having different reflection values to be observed and measured without luminosity problems.
(FR)
L'invention concerne un élément d'interférence par réflexion selon Mirau, qui peut être adapté comme dispositif d'interférence à deux faisceaux, sous forme de module à élément (12) sur un objectif (1) d'un microscope. L'embout comporte un miroir de référence (6) et plusieurs miroirs séparateurs (8a à 8d) qui sont montés sur un disque revolver (7). Les miroirs séparateurs (8a à 8d) présentent des caractéristiques spéciales de réflexion et de transmission (indices R/T), notamment 20/80, 35/65, 43/57 et 50/50. Le miroir de référence (6) comporte par exemple une réflectivité de 85 %. Le dispositif réalisé selon l'invention permet d'observer et de mesurer des objets (4) ayant différents indices de réflexion, sans qu'il y ait des problèmes de luminosité.
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international