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1. (WO1993019481) SOURCE D'IONS ET PROCEDE ET APPAREIL D'INTRODUCTION D'ECHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1993/019481 N° de la demande internationale : PCT/US1993/002360
Date de publication : 30.09.1993 Date de dépôt international : 16.03.1993
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 19.08.1993
CIB :
G01N 27/66 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62
en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
64
Utilisation de l'onde ou de la radiation des particules pour ioniser un gaz, p.ex. dans une chambre d'ionisation
66
et mesure de l'intensité ou de la tension électriques
Déposants :
GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION [US/US]; 400 10th Avenue, N.W. Atlanta, GA 30332, US
Inventeurs :
EISELE, Fred, Louis; US
BERRESHEIM, Harald; US
Mandataire :
DEVEAU, Todd; Deveau, Colton & Marquis Two Midtown Plaza Suite 1400 1360 Peachtree Street, N.E. Atlanta, GA 30309-3209, US
Données relatives à la priorité :
07/856,62424.03.1992US
Titre (EN) ION SOURCE AND SAMPLE INTRODUCTION METHOD AND APPARATUS
(FR) SOURCE D'IONS ET PROCEDE ET APPAREIL D'INTRODUCTION D'ECHANTILLONS
Abrégé :
(EN) A high pressure interface device for introducing sample ions to a drift tube (150), an ion detection means or a mass mobility measurement means, having an ion source ionization region (170) containing an isolated ionization source (132), a sample introduction port, and a reaction region (175) in which specific sample ion species are formed by reaction of sample molecules with selected ion source ions formed by radioactive bombardment of a sample gas by the ion source ions results in an ionized gaseous sample. When coupled to an ion or mass detection or measurement means (154, 156) this invention makes possible detection sensitivities of trace sample species in the subparts-per-trillion range, and under proper conditions does not need calibration.
(FR) L'invention se rapporte à un dispositif d'interface haute pression qui permet d'introduire des échantillons d'ions dans un tube de regroupement (150), à un moyen de détection d'ions ou un moyen de mesure d'électromigration permettant d'obtenir un échantillon gazeux ionisé. Ledit dispositif selon l'invention comprend une région d'ionisation à source d'ions (170) contenant une source d'ionisation isolée (132), un orifice d'introduction d'échantillons, et une région de réaction (175) dans laquelle des espèces d'échantillons d'ions spécifiques sont formés par réaction des échantillons de molécules avec les ions sélectionnés de la source d'ions formés par bombardement radioactif d'un échantillon de gaz par la source d'ions. Lorsque le dispositif est combiné à des moyens de détection d'ions ou de mesure d'électromigration (154, 156), cette invention permet d'obtenir des sensibilités de détection dans la gamme de sous-parties par billion, et ne nécessite pas de calibrage dans des conditions appropriées.
États désignés : CA, JP
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)