PATENTSCOPE sera indisponible quelques heures pour des raisons de maintenance le mardi 19.11.2019 à 16:00 CET
Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO1993018387) PROCEDE ET APPAREIL SIMPLIFIES DE MESURE EN ATMOSPHERE AMBIANTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1993/018387 N° de la demande internationale : PCT/JP1993/000277
Date de publication : 16.09.1993 Date de dépôt international : 04.03.1993
CIB :
G01N 1/22 (2006.01) ,G01N 1/34 (2006.01) ,G01N 1/40 (2006.01) ,G01N 33/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02
Dispositifs pour prélever des échantillons
22
à l'état gazeux
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28
Préparation d'échantillons pour l'analyse
34
Purification; Nettoyage
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28
Préparation d'échantillons pour l'analyse
40
Concentration des échantillons
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
Déposants :
FUJITSU LIMITED [JP/JP]; 1015, Kamikodanaka Nakahara-ku Kawasaki-shi Kanagawa 211, JP (DE)
NAKAJIMA, Eiichi [JP/JP]; JP (UsOnly)
UDOH, Yasuo [JP/JP]; JP (UsOnly)
IIKAWA, Tsutomu [JP/JP]; JP (UsOnly)
KITAKOHJI, Toshisuke [JP/JP]; JP (UsOnly)
MOTOYOSHI, Teruo [JP/JP]; JP (UsOnly)
FURUSAWA, Takashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
YAMAZAKI, Shiori [JP/JP]; JP (UsOnly)
NAKAYAMA, Masao [JP/JP]; JP (UsOnly)
SATOH, Michiko [JP/JP]; JP (UsOnly)
FUKUSHIMA, Shigeru [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs :
NAKAJIMA, Eiichi; JP
UDOH, Yasuo; JP
IIKAWA, Tsutomu; JP
KITAKOHJI, Toshisuke; JP
MOTOYOSHI, Teruo; JP
FURUSAWA, Takashi; JP
YAMAZAKI, Shiori; JP
NAKAYAMA, Masao; JP
SATOH, Michiko; JP
FUKUSHIMA, Shigeru; JP
Mandataire :
UI, Shoichi ; A. Aoki & Associates Seiko Toranomon Bldg. 8-10, Toranomon 1-chome Minato-ku Tokyo 105, JP
Données relatives à la priorité :
4/21706917.08.1992JP
4/4689704.03.1992JP
Titre (EN) SIMPLIFIED METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING AMBIENT ATMOSPHERE
(FR) PROCEDE ET APPAREIL SIMPLIFIES DE MESURE EN ATMOSPHERE AMBIANTE
Abrégé :
(EN) A method of measuring an average long-term concentration of a specified gas in a certain environment accurately in a simplified manner with a small inexpensive apparatus by leaving a test piece such as metal, ceramic or metal salt to stand in an ambient atmosphere for a given period of time and analyzing the gas adsorbed thereby. In particular, NOx, CO2, and SO2 can be selectively adsorbed by, respectively, a porous metal or ceramic (transition metal oxide), a porous ceramic (rare earth element oxide), and a specified chloride such as copper chloride or silver chloride. The invention also discloses a test kit containing the test piece put in a case, and a protective case, umbrella and forced draft unit for putting the kit to practical use.
(FR) Un procédé permet de mesurer précisément sur une longue durée la concentration moyenne d'un gaz donné dans un certain environnement, ceci de manière simple et avec un petit appareil peu coûteux. Il convient à cet effet de laisser l'élément d'essai, tel qu'un métal, une céramique ou un sel métallique, reposer dans une atmosphère ambiante pendant un certain temps puis d'analyser les gaz ainsi adsorbés. Le NOx, le CO2 et le SO2 notamment peuvent être adsorbés sélectivement par un métal poreux ou une céramique (oxyde métallique de transition), une céramique poreuse (oxyde d'élément à base de terre rare), et un chlorure spécifique comme celui de cuivre ou d'argent. On décrit aussi un nécessaire d'essai qui contient l'élément d'essai placé dans un coffret, et un boîtier de protection, une cloche et un dispositif à courant d'air forcé qui permettent d'utiliser ce nécessaire.
États désignés : DE, US
Langue de publication : Japonais (JA)
Langue de dépôt : Japonais (JA)