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1. (WO1993015470) INSTRUMENT A BANDE LARGE SERVANT A LA MESURE NON DESTRUCTIVE DE PROPRIETES DE MATERIAUX
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1993/015470    N° de la demande internationale :    PCT/US1993/000704
Date de publication : 05.08.1993 Date de dépôt international : 26.01.1993
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    27.08.1993    
CIB :
G01V 5/00 (2006.01)
Déposants : SGI INTERNATIONAL [US/US]; 1200 Prospect Street, Suite 325, La Jolla, CA 92037 (US)
Inventeurs : ESZTERGAR, Ernest, P.; (US)
Mandataire : LAND, John; Spensley Horn Jubas & Lubitz, 1880 Century Park East, Fifth Floor, Los Angeles, CA 90067 (US)
Données relatives à la priorité :
826,780 28.01.1992 US
Titre (EN) BROADBAND INSTRUMENT FOR NONDESTRUCTIVE MEASUREMENT OF MATERIAL PROPERTIES
(FR) INSTRUMENT A BANDE LARGE SERVANT A LA MESURE NON DESTRUCTIVE DE PROPRIETES DE MATERIAUX
Abrégé : front page image
(EN)An instrument for measuring the properties of materials (14) is presented. This nondestructive, noncontacting instrument detects electromagnetic radiation from the materials (14) across a wide range of the electromagnetic spectrum, and combines these diverse data so as to derive the material (14) property values desired. In particular, the properties detectable through particle magnetic resonance, spectroscopy of light in the infrared-visible-ultraviolet range, and detection of x-ray and gamma ray radiation may be included in the instrument. Sensors (20) detect each wavelength band of electromagnetic radiation, and data from all of these sensors (20) is merged in a central data processor (12) to evaluate the material (14) properties of interest.
(FR)L'invention décrit un instrument servant à mesurer les propriétés de matériaux (14). Cet instrument non destructif et exempt de contact avec les matériaux (14) détecte le rayonnement électromagnétique émanant de ceux-ci sur une plage étendue du spectre électromagnétique et combine ces données diverses, de façon à calculer les valeurs souhaitées des propriétés desdits matériaux. En particulier, l'instrument peut détecter lesdites propriétés en utilisant la résonance magnétique des particules, la spectroscopie de la lumière dans la plage ultraviolet-visible-infrarouge, ainsi qu'effectuer la détection des rayons X et des rayons gamma. Des détecteurs (20) détectent chaque bande de longueurs d'ondes de rayonnement électromagnétique et les données provenant desdits détecteurs (20) sont introduites dans un ordinateur central (12), de façon à analyser les propriétés des matériaux (14).
États désignés : AU, BR, CA, JP, KR, NZ, PL, RO, RU, UA.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, ML, MR, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)