WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1993009444) DISPOSITIF MULTI-ENTREES ADAPTABLE DESTINE A DES ESSAIS ELECTRIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1993/009444    N° de la demande internationale :    PCT/US1992/009584
Date de publication : 13.05.1993 Date de dépôt international : 05.11.1992
CIB :
G01R 31/01 (2006.01)
Déposants : THE JOHNS HOPKINS UNIVERSITY [US/US]; Applied Physics Laboratory, Johns Hopkins Road, Laurel, MD 20723-6099 (US)
Inventeurs : ABITA, Joseph, L.; (US).
BEBEE, Jack, G.; (US)
Mandataire : BEALL, Mary, Louise; The Johns Hopkins University, Applied Physics Laboratory, Johns Hopkins Road, Laurel, MD 20723-6099 (US)
Données relatives à la priorité :
787,995 05.11.1991 US
Titre (EN) ADAPTABLE MULTIPORT TEST FIXTURE SYSTEM
(FR) DISPOSITIF MULTI-ENTREES ADAPTABLE DESTINE A DES ESSAIS ELECTRIQUES
Abrégé : front page image
(EN)A fixture is used to nondestructively support electrical circuits (3) for testing. It is particularly useful for physically and electrically mounting circuits which are edge accessed. Support (8, 9) positioners (10, 11) and contact elements are used in conjunction with a base plate grid (2) and adjustably cooperate through a system of T-slots (4, 6, 16, 22) and T-shaped projections (20).
(FR)On utilise un dispositif pour supporter sans risque de dégradation des circuits électriques (3) devant faire l'objet d'essais. Il se révèle particulièrement utile pour le montage matériel et électrique de circuits auxquels on accède par un clip de connexion. Il comprend des verrouillages (10, 11) de support (8, 9) et des éléments de contact qu'on emploie avec une plaque d'assise en forme de grille (2) et qui s'encastrent grâce à un système présentant des fentes en T (4, 6, 16, 22) et des saillies correspondantes en T (20).
États désignés : CA, JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)