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1. (WO1992018829) SYSTEME DE MESURE A LASER D'EXPLORATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1992/018829    N° de la demande internationale :    PCT/US1992/002676
Date de publication : 29.10.1992 Date de dépôt international : 03.04.1992
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    19.10.1992    
CIB :
C21C 5/44 (2006.01), G01B 11/02 (2006.01), G01B 11/24 (2006.01), G01S 17/89 (2006.01)
Déposants : MARTIN MARIETTA MAGNESIA SPECIALTIES INC. [US/US]; Executive Plaza II, Hunt Valley, MD 21030 (US)
Inventeurs : CHANDE, Alhad, Manohar; (US).
ACAMPORA, Arthur, Jr.; (US)
Mandataire : WINCHELL, Bruce, M.; Martin Marietta Corporation, 6801 Rockledge Drive, Bethesda, MD 20817 (US).
CHIN, Gay; Martin Marietta Corporation, 6801 Rockledge Drive, Bethesda, MD 20817 (US)
Données relatives à la priorité :
684,092 12.04.1991 US
Titre (EN) SCANNING LASER MEASUREMENT SYSTEM
(FR) SYSTEME DE MESURE A LASER D'EXPLORATION
Abrégé : front page image
(EN)A scanning measurement system comprises a device for imaging an object, wherein the imaging device generates a plurality of data values representing distances from the imaging device to respective points on the object, and a device for processing the data values generated by the imaging device, wherein the processing device comprises a device for entering a predetermined 2 1/2-D mathematical model of the object, and a device for comparing the data values to the model to determine the object's thickness.
(FR)Système de mesure à exploration laser comprenant un dispositif de formation de l'image d'un objet et dans lequel ledit dispositif génère une pluralité de valeurs de données représentant les distances entre ledit dispositif et de points respectifs situés sur l'objet; le système comprend également un dispositif de traitement de valeurs de données générées par le dispositif de formation d'image, ledit dispositif de traitement comprenant un dispositif servant à entrer un modèle mathématique prédéterminé de 2 1/2-D, ainsi qu'un dispositif servant à comparer les valeurs de données, afin de déterminer l'épaisseur de l'objet.
États désignés : AU, BR, CA, JP, KR, NO.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, MC, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)