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1. (WO1992009900) PROCEDE ET APPAREIL DESTINES A CONTROLER UN ENSEMBLE DE PANNEAUX AFFICHEURS A CRISTAUX LIQUIDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1992/009900    N° de la demande internationale :    PCT/US1991/008794
Date de publication : 11.06.1992 Date de dépôt international : 26.11.1991
CIB :
G01R 31/308 (2006.01), G01R 31/317 (2006.01), G09G 3/00 (2006.01)
Déposants : PHOTON DYNAMICS, INC. [US/US]; 641 River Oaks Parkway, San Jose, CA 95134 (US)
Inventeurs : HENLEY, Francois, J.; (US).
MILLER, Michael, J.; (US)
Mandataire : ALLEN, Kenneth, R.; Townsend and Townsend, One Market Plaza, 2000 Steuart Tower, San Francisco, CA 94105 (US)
Données relatives à la priorité :
618,183 26.11.1990 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LCD PANEL ARRAY
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DESTINES A CONTROLER UN ENSEMBLE DE PANNEAUX AFFICHEURS A CRISTAUX LIQUIDES
Abrégé : front page image
(EN)A hierarchical testing method is implemented taking advantage of the nature of the most common defects in an LCD panel (10) to achieve fast effective parametric testing of LCD panels (10) and the like. At the first hierarchy of testing, the panel (10) is logically divided into zones and each zone tested in isolation to identify zones having at least one defect . At the next hierarchy, electro-optic assisted zone inspection is performed to identify where within the zone the defects are located. Lastly, every pixel (12) is inspected using a voltage imaging method to determine whether the switching integrity of the pixel is acceptable. The testing apparatus (20) includes a plurality of panel interface devices (22, 24) coupling the panel under test's drive lines and gate lines to a precision measurement unit (PMU) (26). A controller (28) determines the PMU signals and configures the panel interface devices. The PMU (26) monitors select drive lines and gate lines to isolate zones having defects. An electro-optic voltage measurement system (30) is used to identify the location of defects withinan isolated zone.
(FR)Méthode de contrôle hiérarchique qui est appliquée en tirant parti de la nature des défauts les plus fréquents des panneaux afficheurs à cristaux liquides (10) pour obtenir un contrôle paramétrique efficace et rapide de panneaux afficheurs à cristaux liquides (10) et dispositifs semblables. Au premier stade hiérarchique de contrôle, le panneau (10) est logiquement divisé en zones et chaque zone vérifiée isolément de manière à identifier les zones comportant au moins un défaut. Au stade hiérarchique suivant, une inspection de zone assistée par électro-optique est effectuée en vue d'identifier l'emplacement des défauts au sein de la zone. Enfin, chaque pixel (12) est inspecté à l'aide d'un procédé de formation d'image par tension pour déterminer si l'intégrité de commutation du pixel est acceptable. L'appareil de contrôle (20) comprend une pluralité de dispositifs d'interface de panneaux (22,24) couplant les lignes d'excitation et les lignes de porte du panneau subissant le contrôle à une unité de mesure de précision (PMU) (26). Une unité de contrôle (28) détermine les signaux de l'unité de mesure de précision et configure les dispositifs d'interface des panneaux. Les écrans (26) de contrôle de l'unité de mesure de précision sélectionnent des lignes d'excitation et des lignes de porte pour isoler les zones présentant des défauts. Un système de mesure de tension électro-optique (30) est utilisé pour identifier l'emplacement des défauts au sein d'une zone isolée.
États désignés : CA, DE, GB.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)