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1. WO1991019392 - SYSTEME D'ALIGNEMENT AVEC UN DISPOSITIF D'ESSAI

Numéro de publication WO/1991/019392
Date de publication 12.12.1991
N° de la demande internationale PCT/US1991/003688
Date du dépôt international 24.05.1991
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 23.12.1991
CIB
G01R 1/073 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
CPC
G01R 1/07314
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
G01R 1/07328
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
07328for testing printed circuit boards
G01R 31/2891
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
2891related to sensing or controlling of force, position, temperature
Déposants
  • EVERETT/CHARLES CONTACT PRODUCTS, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • SWART, Mark, A.
  • JOHNSTON, Charles, J.
  • VAN LOAN, David, R.
Mandataires
  • MAXWELL, Walter, G.
Données relatives à la priorité
528,95725.05.1990US
648,45331.01.1991US
Langue de publication Anglais (en)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) TEST FIXTURE ALIGNMENT SYSTEM
(FR) SYSTEME D'ALIGNEMENT AVEC UN DISPOSITIF D'ESSAI
Abrégé
(EN) A test fixture for testing printed circuit boards includes an array of test probes (18) held in contact with a pattern of test points in a circuit array (22) printed on the circuit board (20). The circuit array is positioned with respect to a fiducial mark (28) on the board (20), and a tooling pin hole on the board (20) is aligned with the circuit array. The fixture includes a tooling pin (24) inserted in the tooling pin hole to hold the circuit array (22) in a fixed position relative to the test probes (18) during testing. The fiducial mark (28) is sensed, and an optical reading shows misalignment of the test points on the board relative to the probes. The tooling pin (24) is adjusted on the fixture (10) to move the board (20) relative to the probes (18) to correct misalignment. The alignment of the board (20) on the fixture (10) can be optically sensed by a lens system (104), fiber optic image conduit (72), light source (96, 98), an image enlarger (60) and video probe (70), that produces images of the fiducial mark and a known zero reference point on a TV monitor (118).
(FR) Dispositif d'essai servant à tester des cartes de circuits imprimés, comportant un réseau de sondes de test (18) maintenues en contact avec une configuration de points de test dans un réseau de circuits (22) imprimés sur la carte de circuits (20). Le réseau de circuits est positionné par rapport à une marque de référence (28) sur la carte (20), et un trou de passage de broche sur la carte (20) est aligné avec le réseau de circuits. Le dispositif d'essai comporte une broche (24) insérée dans le trou prévu à cet effet pour maintenir le réseau de circuits (22) en position fixe par rapport aux sondes de test (18) pendant la réalisation des essais. La marque de référence (28) est détectée, et une lecture optique montre les désalignements des points de test sur la carte par rapport aux sondes. La broche (24) est réglée sur le dispositif d'essai (10) pour déplacer la carte (20) par rapport aux sondes (18) de façon à corriger le désalignement. L'alignement de la carte (20) sur le dispositif d'essai (10) peut être détecté optiquement grâce à un système de lentilles (104), un conduit d'images en fibres optiques (72), une source de lumière (96, 98), un agrandisseur d'images (60) et une sonde vidéo (70) qui reproduit des images de la marque de référence et d'un point de référence zéro connu sur un moniteur de télévision (118).
Documents de brevet associés
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