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1. (WO1991004499) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION D'UN OBJET
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1991/004499    N° de la demande internationale :    PCT/NL1990/000134
Date de publication : 04.04.1991 Date de dépôt international : 17.09.1990
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    15.04.1991    
CIB :
G01S 7/48 (2006.01), G01S 7/499 (2006.01), G01S 17/02 (2006.01)
Déposants : KASSIES, Michiel [NL/NL]; (NL)
Inventeurs : KASSIES, Michiel; (NL)
Mandataire : SMULDERS, Th., A., H., J.; Vereenigde Octrooibureaux, Nieuwe Parklaan 107, NL-2587 BP The Hague (NL)
Données relatives à la priorité :
8902314 15.09.1989 NL
Titre (EN) A METHOD OF, AND APPARATUS FOR, DETECTING AN OBJECT
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION D'UN OBJET
Abrégé : front page image
(EN)A method of detecting an object, comprising the steps of generating radiation by means of a source of radiation; emitting the radiation in the direction of the object; and detecting a first radiation component at a first angle of deflection of substantially 180°; measuring a second component of the reflected radiation at a second angle of deflection and performing a first differential measurement between a first intensity signal representing the first radiation component and a second intensity signal representing the second radiation component. Also an apparatus for carrying out the method is described.
(FR)Procédé de détection d'un objet, consistant à générer des radiations au moyen d'une source de radiations; à émettre les radiations en direction de l'objet; à détecter une première composante des radiations à un premier angle de réflexion de sensiblement 180°; à mesurer une deuxième composante des radiations réfléchies à un deuxième angle de réflexion; et à réaliser une première mesure différentielle entre un premier signal d'intensité représentant la première composante des radiations et un deuxième signal d'intensité représentant la deuxième composante des radiations. Un appareil servant à mettre en ÷uvre le procédé est également décrit.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)