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1. (WO1991002951) METHODE ET APPAREILLAGE POUR MESURER LES CARACTERISTIQUES D'UN PRODUIT A PLUSIEURS COUCHES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1991/002951    N° de la demande internationale :    PCT/US1990/004502
Date de publication : 07.03.1991 Date de dépôt international : 13.08.1990
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    04.12.1990    
CIB :
G01G 17/02 (2006.01), G01N 23/16 (2006.01)
Déposants : ABB PROCESS AUTOMATION INC. [US/US]; 650 Ackerman Road, Columbus, OH 43202 (US)
Inventeurs : DUKES, John, R.; (US)
Mandataire : BERNEIKE, Richard, H.; Combustion Engineering, Inc., Intellectual Property Law Dept., 1000 Prospect Hill Road, Windsor, CT 06095 (US).
BERNEIKE, Richard, H.; ABB Business Services Inc., Intellectual Property Law Dept., 1000 Prospect Hill Road, Windsor, CT 06095 (US)
Données relatives à la priorité :
398,757 25.08.1989 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF A MULTILAYER PRODUCT
(FR) METHODE ET APPAREILLAGE POUR MESURER LES CARACTERISTIQUES D'UN PRODUIT A PLUSIEURS COUCHES
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus are disclosed wherein a plurality of basis weight sensors (120, 122, 124, 126, 128) are interleaved with one or more processing stations (104, 106, 108) used to conjoin or apply one or more layers (112, 116) to a base substrate (102) to form a multilayer product (118, 110) such that a sensor (120, 122, 124, 126, 128) is located on the input and output sides of each processing station (104, 106, 108). Each of the sensors (120, 122, 124, 126, 128) can be calibrated with a plurality of product calibrations such that multiple output signals corresponding to multiple products can be generated simultaneously by the sensors. Each of the sensors (120, 122, 124, 126, 128) is calibrated with product calibrations corresponding to the product (118, 110) or intermediate stage (114) of the product (118) which it monitors, the layer applied by the processing station preceding it, if any, and the layer applied by the processing station succeeding it, if any. Signals generated by the sensors (120, 122, 124, 126, 128) may then be used directly to determine the basis weight of the resulting product (118) and/or each intermediate stage (114) of the product, or the signals may be processed to determine the basis weight of each layer of material of the resulting product independent of the substrate (102) to which the layer was applied. Substrate independent layer measurement is performed by subtracting the output signal generated by the sensor preceding the processing station applying the layer based on the product calibration corresponding to the layer from the output signal generated by the sensor succeeding the processing station applying the layer based on the product calibration corresponding to the layer.
(FR)Sont présentés une méthode et un appareillage dans lequel une pluralité de détecteurs de poids de base (120, 122, 124, 126, 128) est intercalée avec une ou plusieurs stations de traitement (104, 106, 108) utilisées pour mettre ou appliquer une ou plusieurs couches (112, 116) sur un substrat de base (102) pour former un produit à plusieurs couches (118, 110) tel qu'un détecteur (120, 122, 124, 126, 128) se situe sur les côtés d'entrée et de sortie de chaque station de traitement (104, 106, 108). Chaque détecteur (120, 122, 124, 126, 128) peut être étalonné à l'aide d'une pluralité de vérifications de produit de sorte à ce que des signaux de sorties multiples correspondant à des produits multiples puissent être générées simultanément par les détecteurs. Chaque détecteur (120, 122, 124, 126, 128) est étalonné avec des vérifications de produit correspondant au produit (118, 110) ou à une étape intermédiaire (114) du produit (118) qu'il surveille, la couche appliquée par la station de traitement le précédant, si c'est le cas, et la couche appliquée par la station de traitement lui succédant, si c'est le cas. Des signaux générés par les détecteurs (120, 122, 124, 126, 128) peuvent alors être utilisés directement pour déterminer le poids de base du produit obtenu (118) et/ou chaque étape intermédiaire (114) du produit, ou encore les signaux peuvent être traités pour déterminer le poids de base de chaque couche de matériau du produit obtenu indépendamment du substrat (102) sur lequel la couche a été appliquée. La mesure de la couche indépendamment du substrat s'effectue en soustrayant le signal de sortie généré par le détecteur précédant la station de traitement qui applique la couche en fonction de la vérification du produit correspondant à la couche du signal de sortie généré par le détecteur suivant la station de traitement qui applique la couche en fonction de la vérification du produit correspondant à la couche.
États désignés : CA, FI, JP, SU.
Office européen des brevets (OEB) (DE, ES, FR, GB, IT, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)