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1. (WO1990007108) APPAREIL D'ANALYSE RAMAN
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1990/007108 N° de la demande internationale : PCT/GB1989/001532
Date de publication : 28.06.1990 Date de dépôt international : 22.12.1989
CIB :
G01J 3/12 (2006.01) ,G01J 3/44 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
12
Production du spectre; Monochromateurs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28
Etude du spectre
44
Spectrométrie Raman; Spectrométrie par diffusion
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21
Microscopes
Déposants :
RENISHAW PLC [GB/GB]; Gloucester Street Wotton-Under-Edge Gloucestershire GL12 7DN, GB (AllExceptUS)
BATCHELDER, David, Neville [US/GB]; GB (UsOnly)
CHENG, Chunwei [CN/GB]; GB (UsOnly)
SMITH, Brian, John, Edward [GB/GB]; GB (UsOnly)
Inventeurs :
BATCHELDER, David, Neville; GB
CHENG, Chunwei; GB
SMITH, Brian, John, Edward; GB
Mandataire :
WAITE, J. ; Renishaw plc (Patent Department) Gloucester Street Wotton-Under-Edge Gloucestershire GL12 7DN, GB
Données relatives à la priorité :
8830039.722.12.1988GB
Titre (EN) RAMAN ANALYSIS APPARATUS
(FR) APPAREIL D'ANALYSE RAMAN
Abrégé :
(EN) A sample (14) is illuminated by light from a laser source (16), which is reflected to it by a dichroic filter (18) and passed through a microscope objective (20). The microscope objective (20) focusses a two dimensional image of the illuminated area onto a detector (22). On the way to the detector (22), the light passes through an interference filter (26), which selects a desired line from the Raman spectrum scattered by the sample (14). The filter (26) can be tuned to any desired Raman line by rotating it through various angles of incidence ($g(U)), about an axis (28) perpendicular to the optical axis.
(FR) Un échantillon (14) est éclairé par de la lumière provenant d'une source laser (16), qui est réfléchie sur lui par un filtre dichroïque (18) et qui est amenée à traverser un objectif de microscope (20). L'objectif de microscope (20) focalise une image bidimensionnelle de la zone éclairée sur un détecteur (22). Sur son trajet en direction du détecteur (22), la lumière traverse un filtre d'interférence (26), qui sélectionne une ligne désirée dans le spectre Raman diffusé par l'échantillon (14). On peut syntoniser le filtre (26) sur n'importe quelle ligne Raman désirée en lui faisant effectuer une rotation selon divers angles d'incidence ($g(U)), autour d'un axe (28) perpendiculaire à l'axe optique.
États désignés : JP, SU, US
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, ES, FR, GB, IT, LU, NL, SE)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP0404901US5194912US5442438US5510894US5689333DE000068919078