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1. (WO1990006521) TEST DE CIRCUITS ANALOGIQUES DANS DES DISPOSITIFS A SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1990/006521 N° de la demande internationale : PCT/GB1989/001408
Date de publication : 14.06.1990 Date de dépôt international : 24.11.1989
CIB :
G01R 31/28 (2006.01) ,G01R 31/3167 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
3167
Essai de circuits analogiques et numériques combinés
Déposants :
LSI LOGIC EUROPE PLC [GB/GB]; Grenville Place The Ring Bracknell Berkshire RG12 1BP, GB (AllExceptUS)
WALLER, David, Leonard [GB/GB]; GB (UsOnly)
Inventeurs :
WALLER, David, Leonard; GB
Mandataire :
THOMSON, Roger, Bruce; W.P. Thompson & Co. Eastcheap House, Central Approach Letchworth Hertfordshire SG6 3DS, GB
Données relatives à la priorité :
8827629.025.11.1988GB
Titre (EN) TESTING OF ANALOGUE CIRCUITS IN SEMICONDUCTOR DEVICES
(FR) TEST DE CIRCUITS ANALOGIQUES DANS DES DISPOSITIFS A SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé :
(EN) A semiconductor device comprising an array of analogue circuits and components configured on individual tiles (17) arranged in rows and columns includes strips (18, 20) of conductive material extending between the circuits and components, with analogue switches (22) enabling individual analogue circuits and components to be connected in turn to associated test equipment (24) to test the integrity of the circuits and components. The strips (18, 20) are preferably of polysilicon or metal. The invention includes a method of testing such devices.
(FR) Un dispositif à semi-conducteurs comprenant un réseau de circuits et de composants analogiques configurés sur des carreaux individuels (17) agencés en rangées et en colonnes, comprend des bandes (18, 20) de matériau conducteur s'étendant entre les circuits et les composants, des commutateurs analogiques (22) permettant de connecter tour à tour des circuits et des composants analogiques individuels à un équipement de test (24) associé, destiné à tester l'intégrité des circuits et des composants. Les bandes (18, 20) sont de préférence en polysilicium ou en métal. L'invention comprend un procédé de test de tels dispositifs.
États désignés : JP, US
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, ES, FR, GB, IT, LU, NL, SE)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP0416047