Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO1990005904 - APPAREIL ET PROCEDE DE MESURE D'INDICE DE REFRACTION

Numéro de publication WO/1990/005904
Date de publication 31.05.1990
N° de la demande internationale PCT/GB1989/001352
Date du dépôt international 15.11.1989
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 15.06.1990
CIB
G01M 11/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11Test des appareils optiques; Test des structures ou des ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
G01N 21/41 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
CPC
G01M 11/37
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
11Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
37in which light is projected perpendicularly to the axis of the fibre or waveguide for monitoring a section thereof
G01N 21/412
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
412Index profiling of optical fibres
Déposants
  • YORK TECHNOLOGY LIMITED [GB]/[GB] (AllExceptUS)
  • SVENDSEN, David, Alan [GB]/[GB] (UsOnly)
Inventeurs
  • SVENDSEN, David, Alan
Mandataires
  • FISHER, Adrian, John
Données relatives à la priorité
8826643.215.11.1988GB
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING REFRACTIVE INDEX
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE MESURE D'INDICE DE REFRACTION
Abrégé
(EN)
A method of sensing optically properties of an approximately cylindrical object, such as an optical fibre or optical fibre preform, which diffracts the illuminating beam into a plurality of beam portions each corresponding to its respective diffraction order, comprising the steps of illuminating the object with an illuminating beam substantially perpendicular to the axis of the object, moving an aperture so as to discriminate a beam portion exiting from the object and corresponding to a selected diffraction order, and detecting said beam portion.
(FR)
L'invention concerne un procédé de détection des propriétés optiques d'un objet approximativement cylindrique, tel qu'une fibre optique ou une préforme de fibre optique, diffractant le faisceau lumineux en une pluralité de parties de faisceaux correspondant chacun à son ordre respectif de diffraction, comprenant les étapes consistant à illuminer l'objet à l'aide d'un faisceau lumineux sensiblement perpendiculaire à l'axe de l'objet, à illuminer un orifice de manière à distinguer une partie de faisceau sortant de l'objet et correspondant à un ordre sélectionné de diffraction, puis à détecter ladite partie du faisceau.
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international