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1. (WO1989012313) SPECTROMETRE DE MASSE A PLASMA A HAUTE RESOLUTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1989/012313    N° de la demande internationale :    PCT/GB1989/000622
Date de publication : 14.12.1989 Date de dépôt international : 05.06.1989
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    30.01.1990    
CIB :
H01J 49/04 (2006.01), H01J 49/10 (2006.01)
Déposants : VG INSTRUMENTS GROUP LIMITED [GB/GB]; Haywarthe Villa, Market Place, Haywards Heath, West Sussex RH16 1DP (GB) (Tous Sauf US).
BRADSHAW, Neil [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
SANDERSON, Neil, Edward [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : BRADSHAW, Neil; (GB).
SANDERSON, Neil, Edward; (GB)
Mandataire : FRANK B. DEHN & CO.; Imperial House, 15-19 Kingsway, London WC2B 6UZ (GB)
Données relatives à la priorité :
8813149.5 03.06.1988 GB
Titre (EN) HIGH RESOLUTION PLASMA MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMETRE DE MASSE A PLASMA A HAUTE RESOLUTION
Abrégé : front page image
(EN)There is disclosed a double-focusing mass spectrometer in which ions are generated from a sample in a microwave-induced or inductively-coupled plasma (3). Ions are sampled from the plasma (3) through an aperture in a sampling cone (19) and pass through a skimmer cone (28) and several electrostatic lenses (30, 33) to the entrance slit of the mass analyzer. The sampling cone (19) and skimmer cone (28) are maintained by a power supply (40) at a potential approximately equal to the accelerating potential required by the mass analyzer. It is found that the plasma potential may be maintained at such a value that a substantial proportion of the ions generated in the plasma (3) have energies lying within the energy passband of the mass analyzer, so that a high sensitivity, high resolution mass spectrometer especially suitable for the elemental analysis of solid or liquid samples is provided. Such a spectrometer is capable of resolving many of the spectral interferences which restrict the usefulness of conventional quadrupole based plasma mass spectrometers.
(FR)La présente invention décrit un spectromètre de masse à double focalisation, dans lequel les ions sont produits à partir d'un échantillon dans un plasma induit par micro-ondes ou couplé par induction (3). L'échantillon des ions est prélevé du plasma (3) par une ouverture ménagée dans un cône d'échantillonnage (19) et traverse un cône d'écumage (28) et plusieurs lentilles électrostatiques (30, 33) jusqu'à atteindre la fente d'entrée de l'analyseur de masse. Le cône d'échantillonnage (19) et le cône d'écumage (28) sont maintenus par une source d'alimentation (40) à un potentiel approximativement égal au potentiel d'accélération requis par l'analyseur de masse. On a découvert que le potentiel du plasma peut être maintenu à une valeur telle qu'une proportion substantielle des ions produits dans le plasma (3) présente des énergies se situant dans la bande passante des énergies de l'analyseur de masse, ce qui permet la réalisation d'un spectromètre de masse à haute résolution et à haute sensibilité particulièrement approprié pour l'analyse élémentaire d'échantillons de solides ou de liquides. Un tel spectromètre est capable de résoudre un grand nombre des interférences spectrales qui restreignent la capacité d'utilisation des spectromètres de masse à plasma à base quadripolaire traditionnels.
États désignés : JP, US.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)