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1. WO1989004946 - PROCEDE DE MESURE DE DIAMETRES DE FILS OU DE PROFILS OU PIECES CIRCULAIRES PAR DIFFRACTION DE RAYONS LUMINEUX ET DISPOSITIF POUR LA MISE EN ×UVRE DE CE PROCEDE

Numéro de publication WO/1989/004946
Date de publication 01.06.1989
N° de la demande internationale PCT/FR1988/000578
Date du dépôt international 25.11.1988
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 29.06.1989
CIB
G01B 11/08 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
08pour mesurer des diamètres
G01B 11/14 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
14pour mesurer la distance ou la marge entre des objets ou des ouvertures espacés
CPC
G01B 11/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
08for measuring diameters
G01B 11/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
14for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
Déposants
  • FARDEAU, Jean-François [FR]/[FR]
Inventeurs
  • FARDEAU, Jean-François
Mandataires
  • RINUY, SANTARELLI
Données relatives à la priorité
87/1661126.11.1987FR
Langue de publication français (FR)
Langue de dépôt français (FR)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR MEASURING DIAMETERS OF WIRES, PROFILES OR CIRCULAR PARTS BY DIFFRACTION OF LIGHT RAYS AND DEVICE FOR IMPLEMENTING SUCH METHOD
(FR) PROCEDE DE MESURE DE DIAMETRES DE FILS OU DE PROFILS OU PIECES CIRCULAIRES PAR DIFFRACTION DE RAYONS LUMINEUX ET DISPOSITIF POUR LA MISE EN ×UVRE DE CE PROCEDE
Abrégé
(EN)
The method comprises generating from a monochromatic light source a field of non coherent light rays presenting a homogenous spatial distribution of light energy, placing the element to be measured within said field by maintaining it in a fixed position while allowing it to deviate from its initial position only in parallel to itself, propulsing said rays to a sensor arranged perpendicularly to the axis of said light rays, masking the central area receiving the maximum energy flux, converting the diffraction fringe images situated on either side of said central area into electric signals after having calibrated said sensor and, analyzing the signals which are function of the distribution of light energy. The device for implementing such method comprises: a monochromatic light source (S); a diaphragm (M2) with an orifice having a microscopic size and situated on the path of rays emitted by the source and in the optical axis; an optics having a given focal length (L2); a sensor (C); a mask (M3); an analyzer, calculator converter system (C1-C2).
(FR)
Ce procédé consiste, à partir d'une source lumineuse monochromatique, à créer un champ de faisceau de rayons lumineux, non cohérent, présentant une répartition spatiale homogène de l'énergie lumineuse, à placer l'élément à mesurer dans ledit champ en le maintenant dans une position fixe tout en ne lui permettant des déviations de position que parallèlement à lui-même, à focaliser lesdits rayons sur un capteur placé perpendiculairement à l'axe desdits rayons lumineux, à masquer la zone centrale recevant le flux d'énergie maximum, à convertir les images des franges de diffraction, situées de part et d'autre de cette zone centrale, en signaux électriques après avoir étalonné ledit capteur et, à analyser ces signaux qui sont fonction de la répartition de l'énergie lumineuse. Le dispositif pour la mise en ÷uvre de ce procédé comporte: une source lumineuse monochromatique (S); un diaphragme à orifice de dimension microscopique (M2) situé sur le chemin des rayons émis par cette source et dans l'axe optique; une optique de focale donnée (L2); un capteur (C); un masque (M3); un système convertisseur analyseur-calculateur (C1-C2).
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