Traitement en cours

Veuillez attendre...

PATENTSCOPE sera indisponible durant quelques heures pour des raisons de maintenance le samedi 31.10.2020 à 7:00 AM CET
Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO1988004781 - SONDE ASSISTEE PAR ORDINATEUR AVEC CAPACITE DE TEST PAR CIRCUIT A TROIS ETATS

Numéro de publication WO/1988/004781
Date de publication 30.06.1988
N° de la demande internationale PCT/US1987/003344
Date du dépôt international 17.12.1987
CIB
G01R 19/165 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
165Indication de ce qu'un courant ou une tension est, soit supérieur ou inférieur à une valeur prédéterminée, soit à l'intérieur ou à l'extérieur d'une plage de valeurs prédéterminée
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 19/16557
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
16533characterised by the application
16557Logic probes, i.e. circuits indicating logic state (high, low, O);
G01R 31/31924
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
31924Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
Déposants
  • GRUMMAN AEROSPACE CORPORATION [US]/[US]
Inventeurs
  • UGENTI, Michael
  • CAIOLA, Richard
Mandataires
  • LISS, Morris @
Données relatives à la priorité
945,63623.12.1986US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) COMPUTER-AIDED PROBE WITH TRI-STATE CIRCUITRY TEST CAPABILITY
(FR) SONDE ASSISTEE PAR ORDINATEUR AVEC CAPACITE DE TEST PAR CIRCUIT A TROIS ETATS
Abrégé
(EN)
A probe (10) is connected to a tri-state circuit (30) which generates a programmable dc voltage to be impressed on a circuit node by the probed tip (12). Memory (24) is provided for storing any change in tip voltage signifying a fault in the tri-state test. A separate circuit (18) detects programmable data levels to eliminate gray area ambiguities. Further, a quick-check circuit (32) determines whether a node is short circuited by determining whether toggling can occur at a node.
(FR)
Une sonde (10) est connectée à un circuit à trois états (30) qui génère une tension à courant continu programmable à imprimer sur un noeud de circuit par la pointe sondée (12). Une mémoire (24) mémorise tout changement de tension dans la pointe signifiant une faute dans le test à trois états. Un circuit séparé (18) détecte des niveaux de données programmables pour éliminer les ambiguïtés de zone de gris. En outre, un circuit de vérification rapide (32) détermine si un noeud est court-circuité en déterminant si une commutation peut se produire au niveau d'un noeud.
Également publié en tant que
NO19883758
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international