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1. (WO1987007762) SPECTROMETRE PHOTO-IONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1987/007762    N° de la demande internationale :    PCT/US1987/001364
Date de publication : 17.12.1987 Date de dépôt international : 04.06.1987
CIB :
H01J 49/06 (2006.01), H01J 49/14 (2006.01), H01J 49/16 (2006.01), H01J 49/28 (2006.01)
Déposants : LAZARUS, Steven [US/US]; (US)
Inventeurs : YOUNG, Charles, E.; (US).
PELLIN, Michael, J.; (US).
GRUEN, Dieter, M.; (US)
Mandataire : RECHTIN, Michael, D.; Niro, Scavone, Haller & Niro, Ltd., 200 West Madison - Suite 3500, Chicago, IL 60606 (US)
Données relatives à la priorité :
870,437 04.06.1986 US
Titre (EN) PHOTO ION SPECTROMETER
(FR) SPECTROMETRE PHOTO-IONIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus for extracting for quantitative analysis ions of selected atomic components of a sample (14). A lens system (46, 50, 54) is configured to provide a slowly diminishing field region for a volume containing the selected atomic components, enabling accurate energy analysis of ions generated in the slowly diminishing field region. The lens system (46, 50, 54) also enables focusing on a sample (14) of a charged particle beam, such as an ion beam (18), along a path length perpendicular to the sample and extraction of the charged particles (88) along a path length also perpendicular to the sample (14). Improvement of signal to noise ratio is achieved by laser excitation of ions to selected autoionization states before carrying out quantitative analysis. Accurate energy analysis of energetic charged particles is assured by using a preselected resistive thick film configuration disposed on an insulator substrate for generating predetermined electric field boundary conditions to achieve for analysis the required field potential. The spectrometer also is applicable in the fields of SIMS, ISS and electron spectroscopy.
(FR)Procédé et dispositif permettant d'extraire en vue d'une analyse quantitative des ions de composants atomiques sélectionnés d'un échantillon (14). Un système lenticulaire (46, 50, 54) est configuré de manière à former une région de champ à diminution lente pour un volume contenant les composants atomiques sélectionnés, ce qui permet d'effectuer une analyse énergétique précise des ions produits dans la région de champ à diminution lente. Le système lenticulaire (46, 50, 54) permet également la focalisation sur un échantillon (14) d'un faisceau de particules chargées, tel qu'un faisceau d'électrons (18), le long d'une trajectoire perpendiculaire à l'échantillon et l'extraction des particules chargées (88) le long d'une trajectoire également perpendiculaire à l'échantillon (14). L'amélioration du rapport signal/bruit est obtenue grâce à l'excitation par laser d'ions dans des états sélectionnés d'auto-ionisation avant d'effectuer l'analyse quantitative. Une analyse énergétique précise des particules énergétiques chargées est effectuée en utilisant un film épais résistif de configuration prédéterminée disposé sur un substrat isolant, de manière à créer des conditions prédéterminées de frontière du champ électrique pour atteindre le potentiel de champ nécessaire pour l'analyse. Ce spectromètre peut s'appliquer également à d'autres domaines de la spectroscopie tels que la spectroscopie à électrons et de type SIMS et ISS.
États désignés : AU, JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)