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1. (WO1986004995) CIRCUIT LOGIQUE A TESTABILITE AMELIOREE DES CONTACTS D'INTERCONNEXION DEFECTUEUX
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1986/004995 N° de la demande internationale : PCT/US1986/000330
Date de publication : 28.08.1986 Date de dépôt international : 18.02.1986
CIB :
G01R 31/02 (2006.01) ,G01R 31/3185 (2006.01) ,H01L 21/66 (2006.01) ,H01L 23/544 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02
Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317
Essai de circuits numériques
3181
Essais fonctionnels
3185
Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
21
Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de dispositifs à semi-conducteurs ou de dispositifs à l'état solide, ou bien de leurs parties constitutives
66
Essai ou mesure durant la fabrication ou le traitement
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
23
Détails de dispositifs à semi-conducteurs ou d'autres dispositifs à l'état solide
544
Marques appliquées sur le dispositif semi-conducteur, p.ex. marques de repérage, schémas d'essai
Déposants :
BURROUGHS CORPORATION [US/US]; Burroughs Place Detroit, MI 48232, US
Inventeurs :
GAL, Laszlo, Volgyesi; US
Mandataire :
PETERSON, Kevin, R.; Burroughs Corporation Burroughs Place Detroit, MI 48232, US
Données relatives à la priorité :
705,19225.02.1985US
Titre (EN) LOGIC CIRCUIT HAVING IMPROVED TESTABILITY FOR DEFECTIVE VIA CONTACTS
(FR) CIRCUIT LOGIQUE A TESTABILITE AMELIOREE DES CONTACTS D'INTERCONNEXION DEFECTUEUX
Abrégé :
(EN) An integrated circuit having improved testability for defects includes a group of logic gates having respective input terminals and output terminals; a conductor that intercouples the output terminal of one logic gate in the group to respective input terminals on the remaining logic gates; a first via contact which, in the absence of a defect, couples the conductor through a first resistive device to a low voltage bus; a parasitic capacitor which couples the conductor to a high voltage bus; and a second via contact which, in the absence of a defect, couples the conductor through a second resistive device to the high voltage bus.
(FR) Un circuit intégré plus facile à tester pour trouver des défauts comprend un groupe de portes logiques ayant des bornes d'entrée et de sortie respectives; un conducteur qui interconnecte la borne de sortie d'une porte logique dans le groupe aux bornes d'entrée respectives des portes logiques restantes; un premier contact d'interconnexion qui, en l'absence d'un défaut, couple le conducteur à travers un premier dispositif de résistance à un bus de basse tension; un condensateur parasite qui couple le conducteur à un bus de haute tension; et un second contact d'interconnexion qui, en l'absence d'un défaut, couple le conducteur à travers un deuxième dispositif de résistance au bus de haute tension.
États désignés : JP, KR
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)
Also published as:
EP0214229JPS62500262