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1. (WO1986003588) MICROSCOPE ACOUSTIQUE BASSE FREQUENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1986/003588 N° de la demande internationale : PCT/US1985/002418
Date de publication : 19.06.1986 Date de dépôt international : 11.12.1985
CIB :
G01N 29/06 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
04
Analyse de solides
06
Visualisation de l'intérieur, p.ex. microscopie acoustique
Déposants :
THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIO [US/US]; R UNIVERSITY; Stanford, CA 94305, US
Inventeurs :
KHURI-YAKUB, Butrus, Thomas; US
Mandataire :
SUYAT, Reginald, J. @; Flehr, Hohbach, Test, Albritton & Herbert Four Embarcadero Center Suite 3400 San Francisco, CA 94111-4187, US
Données relatives à la priorité :
681,22913.12.1984US
Titre (EN) LOW FREQUENCY ACOUSTIC MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE ACOUSTIQUE BASSE FREQUENCE
Abrégé :
(EN) The method of detecting near-surface flaws, inclusion or voids at plane (16) in a solid sample (13) by detecting acoustic energy specularly reflected and mode converted at the surface of the sample and reflected from flaws, inclusions or voids and forming an interference signal.
(FR) Méthode de détection de pailles, d'inclusions ou de vides situés près de la surface, au niveau d'un plan (16) dans un échantillon solide (13) par la mesure de l'énergie acoustique transmise par réflexion spéculaire et transformation du mode à la surface de l'échantillon, ainsi que de celle réfléchie par les pailles, inclusions ou vides et formant un signal d'interférences.
États désignés : JP
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, FR, GB, IT, LU, NL, SE)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)