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1. WO1986001133 - SOCLE D'ESSAI DE PASSAGE POUR DISPOSITIFS A SEMI-CONDUCTEURS

Numéro de publication WO/1986/001133
Date de publication 27.02.1986
N° de la demande internationale PCT/US1985/001020
Date du dépôt international 31.05.1985
CIB
B07C 5/344 2006.01
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
07SÉPARATION DES SOLIDES; TRIAGE
CTRI POSTAL; TRI D'OBJETS INDIVIDUELS OU D'UN MATÉRIAU EN VRAC MANIPULABLE PIÈCE PAR PIÈCE COMME DES OBJETS INDIVIDUELS
5Tri selon une caractéristique ou une particularité des objets ou du matériau à trier, p.ex. tri commandé par un dispositif qui détecte ou mesure cette caractéristique ou particularité; Tri à l'aide de dispositifs manœuvrés à la main, p.ex. d'aiguillages
34Tri en fonction d'autres propriétés particulières
344selon les propriétés électriques ou magnétiques
G01R 1/04 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
04Boîtiers; Organes de support; Agencements des bornes
CPC
B07C 5/344
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
5Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
34Sorting according to other particular properties
344according to electric or electromagnetic properties
G01R 1/0433
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
0433Sockets for IC's or transistors
Déposants
  • MOTOROLA, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • FRISBIE, Milo, W.
Mandataires
  • GILLMAN, James, W. @
Données relatives à la priorité
641,61917.08.1984US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) PASS-THROUGH TEST SOCKET FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
(FR) SOCLE D'ESSAI DE PASSAGE POUR DISPOSITIFS A SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé
(EN)
An apparauts for testing packaged integrated circuit devices includes an input track (10) into which untested devices are loaded for transfer by a fiber faced belt (12) to a reservoir (22). A test socket assembly includes a housing (32, 34, 36, 38, 40, 42) having a channel (52) therethrough, which channel (52) includes an entrance (32) adjacent the reservoir (22). A plurality of contact portions (82) extend into the channel intermediate the entrance (32) and the exit (40). A piston (72) acting under the influence of a linear motor (70) pushes untested semiconductor devices (104, 106, 108) through the entrance (32) so as to cause the leads thereof to sequentially engage the contact portions (82) at which time they are tested. As additional untested devices are placed into the channel (52), tested devices are forced out of the channel (52) and into a sorting mechanism (20).
(FR)
Appareil pour tester les dispositifs à circuits intégrés enrobés, comportant une voie d'entrée (10) dans laquelle sont chargés des dispositifs non testés en vue de leur transfert vers un bac (22) au moyen d'une courroie à surface fibreuse (12). Un assemblage de socle d'essai comprend un boîtier (32, 34, 36, 38, 40, 42) parcouru par un canal (52), lequel possède une entrée (32) adjacente au bac (22). Une pluralité de portions de contact (82) s'étend dans le canal en position intermédiaire entre l'entrée (32) et la sortie (40). Un piston (72) agissant sous l'influence d'un moteur linéaire (70) pousse les dispositifs à semi-conducteurs non testés (104, 106, 108) à travers l'entrée (32) de manière à amener leurs contacts de sortie à s'engager séquentiellement dans les portions de contact (82) et être alors testés. A mesure que d'autres dispositifs non testés sont introduits dans le canal (52), les dispositifs testés sont poussés hors du canal (52) pour être introduits dans un mécanisme de triage (20).
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