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1. (WO1985004351) TEST AUTOMATIQUE DE CLAVIERS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1985/004351    N° de la demande internationale :    PCT/US1985/000489
Date de publication : 10.10.1985 Date de dépôt international : 25.03.1985
CIB :
B07C 5/344 (2006.01), B41J 29/393 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01), G07C 3/00 (2006.01)
Déposants : HASENBALG, Ralph, David [US/US]; (US)
Inventeurs : HASENBALG, Ralph, David; (US)
Mandataire : BERMAN, Charles @; Lyon & Lyon, 611 West Sixth Street, 34th Floor, Los Angeles, CA 90017 (US)
Données relatives à la priorité :
595,435 30.03.1984 US
Titre (EN) AUTOMATED KEYBOARD TESTING
(FR) TEST AUTOMATIQUE DE CLAVIERS
Abrégé : front page image
(EN)A conveyor transports keyboards for automatic testing by a keyboard testing mechanism (20) located at a test station (22), and a discharge conveyor (23) accepts rejected keyboards. At the testing (33) there is means for bringing the keyboard and the keyboard testing mechanism into a testing relationship where the keyboards and test mechanism are located physically closer and in electrical contact, and thereafter removing that relationship. On the main conveyor there is a separation element for effecting a right-angular turn of rejected keyboards from the normal conveyance direction for the passed keyboards.
(FR)Un système transporteur fait défiler des claviers destinés au test automatique devant un mécanisme de test de clavier (20) situé à une station de test (22), et un transporteur de décharge (23) accepte les claviers rejetés. Un organe situé à la station de test (33) permet de mettre le clavier et le mécanisme de test de clavier en une relation de test où les claviers et le mécanisme de test sont disposés à proximité physique et en contact électrique, et d'interrompre ensuite cette relation. Sur le transporteur principal se trouve un élément de séparation faisant effectuer aux claviers rejetés un tour à angle droit par rapport au sens de transport des claviers ayant réussi le test.
États désignés : JP.
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, CH, DE, FR, GB, LU, NL, SE).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)