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Paramétrages

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1. WO1985001342 - PROCEDE ET INSTRUMENT DE MESURE BASES SUR LA DIFFRACTION DES RAYONS X POUR MESURER DES CONTRAINTES

Numéro de publication WO/1985/001342
Date de publication 28.03.1985
N° de la demande internationale PCT/FI1984/000068
Date du dépôt international 21.09.1984
CIB
G01L 1/25 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
LMESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
1Mesure des forces ou des contraintes, en général
25par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X, neutrons
G01N 23/207 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
207Diffractométrie, p.ex. en utilisant une sonde en position centrale et un ou plusieurs détecteurs déplaçables en positions circonférentielles
CPC
G01L 1/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
1Measuring force or stress, in general
25using wave or particle radiation, e.g. X-rays ; , microwaves; , neutrons
G01N 23/207
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
20by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
Déposants
  • INSINÖÖRITOIMISTO MEXPERT OY [FI/FI]; Länsituulenkuja 3 SF-02100 Espoo, FI (AllExceptUS)
  • KORHONEN, Matti [FI/FI]; FI (UsOnly)
  • LINDROOS, Veikko [FI/FI]; FI (UsOnly)
Inventeurs
  • KORHONEN, Matti; FI
  • LINDROOS, Veikko; FI
Mandataires
  • FORSSÉN & SALOMAA OY; Uudenmaankatu 40 A SF-00120 Helsinki, FI
Données relatives à la priorité
83339322.09.1983FI
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) PROCEDURE AND MEASURING INSTRUMENT BASED ON X-RAY DIFFRACTION FOR MEASURING STRESSES
(FR) PROCEDE ET INSTRUMENT DE MESURE BASES SUR LA DIFFRACTION DES RAYONS X POUR MESURER DES CONTRAINTES
Abrégé
(EN)
Procedure based on x-ray diffraction for measuring the stress state of metals, in particular austenitic steels. In the procedure the detector surface (10) being inclined about an axis (A-A) lying on the surface of the sample (20) being examined which is substantially perpendicular to the direction of the stresses ($g(s)xx) being examined. By means of the detector surface (10) the diameters (2Sax) of the so-called Debye rings in the direction of the surface being examined being recorded at two or several inclination angles ($g(c)). The detector surface (10) having arcuate shape, as viewed in the direction (B-B) at right angles against said inclination axis (A-A), and in said procedure being used such an arcuate detector surface (10) elongated in the direction of said inclination axis (A-A) and narrow enough in the opposite direction that an inclination angle ($g(c)) of the detector surface (10) large enough in view of the procedure's implementation is feasible. In the procedure a detector surface (10) is used by which the x-rays reflected from the sample are converted to photosignals, and that on the basis of said photosignals the stresses to be measured are determined. Furthermore is disclosed a measuring instrument in which the detector surface (10) is located symmetrically on both sides of said collimator, and that the detector surface (10) is provided with parts (10a, 10b; 41) with which the x-ray radiation incident on the detector surface is converted into photosignals, and that the means further comprises a unit or units with which the stresses to be measured are derived on the basis of the photosignal.
(FR)
Procédé basé sur la diffraction des rayons X pour mesurer la contrainte de métaux, en particulier d'aciers austénitiques. Dans le procédé, la surface de détection (10) est inclinée autour d'un axe (A-A) se trouvant sur la surface de l'échnatillon (20) soumis à l'examen qui est essentiellement perpendiculaire à la direction des contraintes ($g(s)xx) examinées. Grâce à la surface de détection (10), les diamètres (2Sax) de ce que l'on appelle des anneaux Debye dans la direction de la surface examinée sont enregistrés à deux ou plusieurs angles d'inclinaison ($g(c)). La surface de détection (10) possède une forme arquée, comme montré dans la direction (B-B) à angles droits par rapport audit axe d'inclinaison (A-A) et l'on utilise une telle surface de détection arquée (10) allongée dans la direction dudit axe d'inclinaison (A-A) et suffisamment étroite dans la direction opposée pour permettre un angle d'inclinaison ($g(c)) de la surface de détection (10) suffisamment grand pour l'exécution du procédé. On utilise une surface de détection (10) grâce à laquelle les rayons X réfléchis par l'échantillon sont convertis en signaux photo; on détermine sur la base desdits signaux photo les contraintes à mesurer. Est en outre décrit un instrument de mesure où la surface de détection (10) est située symétriquement des deux côtés dudit collimateur et où la surface de détection (10) est dotée de parties (10a, 10b; 41) grâce auxquelles les rayons X tombant sur la surface de détection sont convertis en signaux photo, le dispositif comportant en outre une ou plusieurs unités permettant la détermination des contraintes à mesurer sur la base du signal photo.
Également publié en tant que
NO19851991
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