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1. (WO1981002628) APPAREIL DE MESURE DE DIMENSIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1981/002628    N° de la demande internationale :    PCT/US1980/001493
Date de publication : 17.09.1981 Date de dépôt international : 07.11.1980
CIB :
G01B 11/02 (2006.01), G01B 11/06 (2006.01)
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
130171 13.03.1980 US
Titre (EN) DIMENSION MEASURING APPARATUS
(FR) APPAREIL DE MESURE DE DIMENSIONS
Abrégé : front page image
(EN)Device for accurately measuring a dimension associated with a remote object without contacting the object itself. A beam of light (12B) is directed at a surface of the object (10) and a reflected portion of the beam is detected at a photodetector element (12E). The particular dimension of the object is determined mathematically by measuring the distance (d) by which the reflected light signal is offset from a predetermined point on the photodetector which is aligned with a reference plane (10c) at the object. By the use of two beads and respective light beams and photodetectors, a remote object's thickness can also be measured. In order to compensate for the angular relationship between the object's surface and that of the photodetector, a linearizing calibration circuit (54) is included in which preset corrections are recorded in programmable memory units. The calibration settings are determined during manufacture and correct for each normally non-linear reading at incremental distances within a prescribed measurement range. Further accuracy of the system is obtained by using a high frequency sampling circuit (30), (32) to modulate the light source, with a demodulating circuit (44) serving to discriminate between the input light beam and extraneous ambient light signals.
(FR)Dispositif de mesure precise de dimensions associees a un objet eloigne sans etre en contact avec l'objet lui-meme. Un rayon de lumiere (12B) est dirige sur une surface de l'objet (8) et une partie reflechie du rayon est detectee par un element de photodetecteur (12E). La dimension particuliere de l'objet est determinee mathematiquement en mesurant la distance (d) de decalage du signal lumineux reflechi par rapport a un point predetermine sur le photo-detecteur qui est aligne avec un plan de reference (10c) de l'objet. En utilisant deux tetes et des rayons lumineux et des photo-detecteurs respectifs, l'epaisseur d'un objet eloigne peut egalement etre mesuree. De maniere a compenser la relation angulaire entre la surface de l'objet et celle du photo-detecteur, un circuit de calibrage de linearisation (54) permet d'enregistrer des corrections pre-etablies dans des unites de memoire programmables. Les valeurs de calibrage sont determinees au cours de la fabrication et sont correctes pour chaque lecture normalement non lineaire pour des distances croissantes dans une plage de mesure predeterminee. On augmente encore la precision du systeme en utilisant un circuit d'echantillonnage a haute frequence (30, 32) pour moduler la source lumineuse, avec un circuit de demodulation (44) servant a faire la distinction entre le rayon lumineux d'entree et des signaux lumineux ambiants etrangers.
États désignés :
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)