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1. (WO1980002771) SYSTEME ELECTRONIC OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1980/002771    N° de la demande internationale :    PCT/SU1980/000100
Date de publication : 11.12.1980 Date de dépôt international : 04.06.1980
CIB :
H01J 37/244 (2006.01)
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
2775750 04.06.1979 SU
Titre (EN) ELECTRON-OPTICAL SYSTEM
(FR) SYSTEME ELECTRONIC OPTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)An electron-optical system comprising a plate (5) with openings (6) intended for measuring the electron beam aperture and fixed in relation to the optical axis of the system, and two deflection yokes (7 and 8) located on both sides of the plate (5), the first deflection yoke (7) causing the electron beam (15) to pass through one of the openings (6) of the plate (5) and the second deflection yoke (8) causing the electron beam (15) to return to the optical axis of the electron-optical system.
(FR)Un systeme electronique optique comprend une plaque (5) avec ouvertures (6) destinee a mesurer l"ouverture du rayon electronique fixee de maniere inamovible par rapport a l"axe optique du systeme, et des jougs de deflexion (7 et 8) situes des deux cotes de la plaque (5). Le premier joug de deflexion (7) force le rayon electronique (15) de passer au travers de l"une des ouvertures (6) de la plaque (5) et le second joug de deflexion (8) force le rayon electronique (15) de revenir sur l"axe optique du systeme electronique optique.
États désignés :
Langue de publication : russe (RU)
Langue de dépôt : russe (RU)