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1. (WO1980001005) MICROSCOPIE PHOTO ACOUSTIQUE OU THERMO ACOUSTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1980/001005    N° de la demande internationale :    PCT/US1979/000922
Date de publication : 15.05.1980 Date de dépôt international : 26.10.1979
CIB :
G01N 21/17 (2006.01), G01N 29/06 (2006.01), G01N 29/24 (2006.01)
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
956668 01.11.1978 US
Titre (EN) PHOTOACOUSTIC OR THERMOACOUSTIC MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE PHOTO ACOUSTIQUE OU THERMO ACOUSTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)Method and apparatus for thermoacoustic or thermal wave microscopy to detect surface and sub-surface information from a material on a microscopic scale. A thermal wave is generated in a material by causing periodic, localized heating at a microscopic spot (24) by focusing (22) intensity modulated (16) light (14), or electromagnetic radiation or particle beam, on the spot. The thermoacoustic signal produced provides information about material composition, structure, and the presence of energy deexcitation processes such as fluorescence, photochemistry and photovoltaic processes. The sample (10) is scanned (27) as a two-dimensional array of microscopic spots. Full depth-profiling of the material is provided by varying the modulation frequency (16) of the energy source.
(FR)Methode et appareil de microscopie thermo acoustique ou par ondes thermiques pour detecter des informations en surface ou sous la surface d"un materiau sur une echelle microscopique. Une onde thermique est produite dans un materiau par chauffage periodique localise en un point microscopique (24) par concentration (22) de lumiere (14) a intensite modulee (16), ou par radiation electromagnetique ou par faisceau de particules, sur le point. Le signal thermo acoustique produit donne des informations sur la composition du materiau, sa structure, et l"existence de processus de desexcitation d"energie tels que le processus de fluorescence, photochimique et photo voltaique. L"echantillon (10) est explore (27) suivant une disposition bidimensionnelle de points microscopiques. On obtient le profilage complet du materiau en modifiant la frequence de modulation (16) de la source d"energie.
États désignés :
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)