WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Parcourir
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO1980000614) APPAREIL D"ESSAI DE L"INTEGRITE DES CIRCUITS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1980/000614    N° de la demande internationale :    PCT/US1979/000640
Date de publication : 03.04.1980 Date de dépôt international : 30.08.1979
CIB :
G01R 31/02 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
942099 13.09.1978 US
Titre (EN) CIRCUIT INTEGRITY TESTER
(FR) APPAREIL D"ESSAI DE L"INTEGRITE DES CIRCUITS
Abrégé : front page image
(EN)The test device is an electrolytic apparatus for the simultaneous non-destructive testing of the integrity of pluralities of circuit boards for continuity and anti-continuity or short circuits, including such circuit boards (23, 23a) as employ multi-layer or multi-level interconnection wiring, whether it be printed wiring or screen printed or thermally deposited circuits. Transient electro-deposition of one ion from an alkali halide water solution temporarily modifies the optical reflectivity of exposed circuit terminals (100) or metal parts of the circuit boards under test in a characteristic and easily recognized manner according to the continuity status of the associated circuit paths (104, 106).
(FR)L"appareil d"essai est un appareil electrolytique pour l"essai simultane non destructeur de l"integrite de plusieurs plaquettes de circuit pour controler leur continuite et leur anticontinuite ou court-circuit, de telles plaquettes de circuit (23, 23a) utilisant un cablage d"interconnexion a multi-couches ou multi-niveaux, que ce soit un cablage imprime ou des circuits imprimes sur ecran ou des circuits formes par depot thermique. Le depot electrolytique momentane d"un ion d"une solution aqueuse d"un halogenure alcalin modifie temporairement la reflectance optique des bornes (100) du circuit expose ou des parties metalliques des plaquettes de circuit a l"essai de maniere caracteristique et que l"on peut reconnaitre facilement selon l"etat de continuite des chemins du circuit associes (104, 106).
États désignés :
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)