Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO1980000614) APPAREIL D"ESSAI DE L"INTEGRITE DES CIRCUITS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/1980/000614 N° de la demande internationale : PCT/US1979/000640
Date de publication : 03.04.1980 Date de dépôt international : 30.08.1979
CIB :
G01R 31/02 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02
Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
94209913.09.1978US
Titre (EN) CIRCUIT INTEGRITY TESTER
(FR) APPAREIL D"ESSAI DE L"INTEGRITE DES CIRCUITS
Abrégé :
(EN) The test device is an electrolytic apparatus for the simultaneous non-destructive testing of the integrity of pluralities of circuit boards for continuity and anti-continuity or short circuits, including such circuit boards (23, 23a) as employ multi-layer or multi-level interconnection wiring, whether it be printed wiring or screen printed or thermally deposited circuits. Transient electro-deposition of one ion from an alkali halide water solution temporarily modifies the optical reflectivity of exposed circuit terminals (100) or metal parts of the circuit boards under test in a characteristic and easily recognized manner according to the continuity status of the associated circuit paths (104, 106).
(FR) L"appareil d"essai est un appareil electrolytique pour l"essai simultane non destructeur de l"integrite de plusieurs plaquettes de circuit pour controler leur continuite et leur anticontinuite ou court-circuit, de telles plaquettes de circuit (23, 23a) utilisant un cablage d"interconnexion a multi-couches ou multi-niveaux, que ce soit un cablage imprime ou des circuits imprimes sur ecran ou des circuits formes par depot thermique. Le depot electrolytique momentane d"un ion d"une solution aqueuse d"un halogenure alcalin modifie temporairement la reflectance optique des bornes (100) du circuit expose ou des parties metalliques des plaquettes de circuit a l"essai de maniere caracteristique et que l"on peut reconnaitre facilement selon l"etat de continuite des chemins du circuit associes (104, 106).
États désignés :
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)