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1. (WO1980000189) SYSTEME DE CALIBRAGE POUR SPECTROSCOPE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/1980/000189    N° de la demande internationale :    PCT/JP1979/000158
Date de publication : 07.02.1980 Date de dépôt international : 20.06.1979
CIB :
G01J 3/04 (2006.01), G01J 3/28 (2006.01)
Déposants :
Inventeurs :
Données relatives à la priorité :
78/75350 23.06.1978 JP
Titre (EN) CALIBRATIOB SYSTEM FOR SPECTROSCOPES
(FR) SYSTEME DE CALIBRAGE POUR SPECTROSCOPE
Abrégé : front page image
(EN)Apparatus for calibrating a slit width in a calibration system for spectroscopes. In conventional calibration systems, there has been a problem of no provision of slit width calibration function, though the precision of the slit width of spectroscopes is one of the important factors for its performance. In this invention, the bright line spectrum or the zero-order ray is utilized to calibrate the slit width. A peak value of the output signals from a photosensor (20) is detected by means of a peak discriminator (26), and the peak value is stored in a memory (28). The peak value is compared with the output of the photosensor (20) in a comparator (32). The slit width calibration may be performed on the basis of the amount of wave length scanning at which amount the peak value and the output of the photosensor are brought up to the coincidence with each other.
(FR)Appareil pour calibrer une largeur de fente dans un systeme de calibrage pour spectroscope. Dans les systemes de calibrage conventionnels, l"absence de la fonction de calibrage de la largeur d"une fente constitue un probleme, alors que la precision de la largeur de la fente des spectroscopes est un des facteurs importants pour son bon fonctionnement. Dans cette invention, le spectre de ligne brillante ou le rayon d"ordre-0 est utilise pour calibrer la largeur de la fente. Une valeur de crete des signaux de sortie d"un photo detecteur (20) est detectee au moyen d"un detecteur de crete (26) et la valeur de crete est emmagasinee dans une memoire (28). La valeur de crete est comparee a la sortie du photodetecteur (20) dans un comparateur (32). Le calibrage de largeur de fente peut s"effectuer sur la base de la quantite d"exploration de la longueur d"onde, quantite avec laquelle on fait coincider la valeur de crete et la sortie du photodetecteur.
États désignés :
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)