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1. US20060087307 - Single pin multilevel integrated circuit test interface

Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 10519346
Date de la demande 19.06.2003
Numéro de publication 20060087307
Date de publication 27.04.2006
Type de publication A1
CIB
G01R 13/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
13Dispositions pour la présentation de variables électriques ou de formes d'ondes
G01R 13/02
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
13Dispositions pour la présentation de variables électriques ou de formes d'ondes
02pour la présentation sous forme numérique des variables électriques mesurées
G01R 31/28
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G01R 31/317
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
G01R 31/3185
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
G11C 7/10
GPHYSIQUE
11ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
CMÉMOIRES STATIQUES
7Dispositions pour écrire une information ou pour lire une information dans une mémoire numérique
10Dispositions d'interface d'entrée/sortie de données, p.ex. circuits de commande E/S de données, mémoires tampon de données E/S
Déposants DE WINTER RUDI
Inventeurs De Winter Rudi
Mandataires TOWNSEND AND TOWNSEND AND CREW, LLP
Données relatives à la priorité 0214516 21.06.2002 GB
Titre
(EN) Single pin multilevel integrated circuit test interface
Abrégé
(EN)

An integrated circuit comprises one or more integrated circuit elements which may interact with other circuitry via one or more input/output pins. In the present invention the circuit elements include and interface element for interfacing with external test circuitry. The interface element communicates with the external test circuitry via a single input/output pin dedicated for testing.


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