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1. (US5534998) Sample nebulizer and evaporation chamber for ICP and MIP emission or mass spectrometry and spectrometers comprising the same

Office : États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande : 08290822 Date de la demande : 14.12.1994
Numéro de publication : 5534998 Date de publication : 09.07.1996
Numéro de délivrance : 5534998 Date de délivrance : 09.07.1996
Type de publication : A
CIB :
G01N 21/73
G01N 1/00
H01J 49/04
G01N 1/28
G01N 21/71
H01J 49/10
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
71
excité thermiquement
73
en utilisant des brûleurs ou torches à plasma
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
04
Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28
Préparation d'échantillons pour l'analyse
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
71
excité thermiquement
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
10
Sources d'ions; Canons à ions
CPC :
H01J 49/105
G01N 21/714
G01N 35/1095
Déposants : Fisons PLC
Inventeurs : Eastgate Alan R.
Vogel Wilfried
Mandataires : Chilton, Alix & Van Kirk
Données relatives à la priorité : 9203463 19.02.1992 GB
Titre : (EN) Sample nebulizer and evaporation chamber for ICP and MIP emission or mass spectrometry and spectrometers comprising the same
Abrégé : front page image
(EN)

The invention provides a nebulizer and spray chamber (3) for producing an aerosol (7) suitable for feeding into the plasma torch of an ICP or MIP emission or mass spectrometer. The aerosol (7) is subjected to rapid radiative heating (26) to evaporate the smaller droplets to dryness and preferably to cause the larger droplets to disintegrate into smaller droplets before they are completely evaporated. Nebulizer/spray chamber combinations according to the invention have higher sample transport efficiency than prior types. Optical and mass ICP and MIP spectrometers incorporating the nebulizer and spray chamber are also disclosed.


Also published as:
EP0627071DE000069313439AU1993036380WO/1993/017320