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1. US5408189 - Test fixture alignment system for printed circuit boards

Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 07990573
Date de la demande 14.12.1992
Numéro de publication 5408189
Date de publication 18.04.1995
Numéro de délivrance 5408189
Date de délivrance 18.04.1995
Type de publication A
CIB
G01R 1/04
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
04Boîtiers; Organes de support; Agencements des bornes
G01R 31/02
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
G01R 1/073
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
073Sondes multiples
G01R 31/28
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
H04N 7/18
HÉLECTRICITÉ
04TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
NTRANSMISSION D'IMAGES, p.ex. TÉLÉVISION
7Systèmes de télévision
18Systèmes de télévision en circuit fermé, c. à d. systèmes dans lesquels le signal n'est pas diffusé
CPC
G01R 1/07314
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
G01R 1/07328
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07307with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
07314the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
07328for testing printed circuit boards
G01R 31/2891
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
2891related to sensing or controlling of force, position, temperature
Déposants Everett Charles Technologies, Inc.
Inventeurs Swart Mark A.
Johnston Charles J.
Van Loan David R.
Mandataires Christie, Parker & Hale
Données relatives à la priorité 07528957 25.05.1990 US
07648453 31.01.1991 US
Titre
(EN) Test fixture alignment system for printed circuit boards
Abrégé
(EN)

A test fixture for testing circuit boards includes an array of test probes mounted to a probe plate and held in contact with test points in circuits printed on the board. The circuit array is indexed with respect to a fiducial mark on the board. The fiducial mark is sensed, and an optical reading shows the alignment or misalignment of the test points on the board relative to the probes. The top plate position is adjusted to move the board relative to the probes to correct misalignment. The optical reading indicates movement of the board to a corrected position necessary to align the test points to the probes. Board alignment can be optically sensed by a bore scope and an image enlarger and video probe that produce images of the fiducial mark and a known zero reference point on a video monitor. The zero reference is adjustable electronically during calibration. The top plate is movable by X- and Y-axis drive motors coupled to the fixture base and having separate output shafts for shifting the top plate in X, Y and Z-axis orientations. The drive motors are stopped when alignment is made and the top plate is retained in its fixed position during testing of the board.