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Paramétrages

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1. US20200292465 - SHAPE INSPECTION APPARATUS AND SHAPE INSPECTION METHOD

Office
États-Unis d'Amérique
Numéro de la demande 16761416
Date de la demande 07.12.2018
Numéro de publication 20200292465
Date de publication 17.09.2020
Type de publication A1
CIB
G01N 21/892
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
892caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l'objet examiné
G01B 11/24
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
CPC
G01B 11/24
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
G01N 21/892
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
84Systems specially adapted for particular applications
88Investigating the presence of flaws or contamination
89in moving material, e.g. running paper or textiles
892characterised by the flaw, defect or object feature examined
Déposants NIPPON STEEL CORPORATION
Inventeurs Yusuke KONNO
Takayuki SONODA
Nobuhiro FURUYA
Données relatives à la priorité 2017-236072 08.12.2017 JP
Titre
(EN) SHAPE INSPECTION APPARATUS AND SHAPE INSPECTION METHOD
Abrégé
(EN)

A shape inspection apparatus includes N illumination light sources, a line sensor camera, a measurement control unit, and a data processing unit. The measurement control unit controls the illumination light sources to modulate luminescence intensities at a frequency that is 1/N of a frequency of a scan rate of the line sensor camera, and to emit lights by sequentially repeating N different patterns of illumination intensity ratios. The data processing unit generates a first separated image and a second separated image based on a photographed image, generates a first mixing elimination image acquired by removing an unnecessary illumination component from the first separated image, and a second mixing elimination image acquired by removing an unnecessary illumination component from the second separated image, and calculates an inclination of the surface of the strip-shaped body based on a difference between the first mixing elimination image and the second mixing elimination image.

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