(KO) 자장(磁場) 취득 장치에서는, 측정의 대상 영역의 폭에 비해 충분히 긴 측정부(21)가 z=α를 만족하는 측정면 상에 배치되고, 측정면 상의 소정의 기준 방향과, 측정부(21)의 길이 방향이 이루는 각도θ를 복수회로 변경하면서, 측정부(21)의 길이 방향에 수직인 X'방향에의 주사가 반복된다. 이어서, X'방향의 좌표 파라미터를 x'로 하여, 주사의 반복에 의해 취득되는 측정치 f(x', θ)를 푸리에 변환하는 것에 의해, g(k, θ)가 취득된다(다만, k는 X'방향의 파수이다.). 그리고, 소정의 2 차원 포텐셜 취득식에 g(k, θ)를 대입하는 것에 의해, 측정면에서의 2 차원 포텐셜을 나타내는 Ø(x, y, α)가 구해진다. 이것에 의해, 대상 영역의 폭에 비해 충분히 큰 측정부(21)를 이용하여, 2 차원의 포텐셜의 측정을 높은 분해능(分解能)으로 행할 수 있다.
x'
x'
x'
