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1. IN2842/CHENP/2013 - DIFFERENTIAL PHASE CONTRAST IMAGING

Office Inde
Numéro de la demande 2842/CHENP/2013
Date de la demande 12.04.2013
Numéro de publication 2842/CHENP/2013
Date de publication 18.07.2014
Type de publication A
CIB
G01N 23/04
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
02en transmettant la radiation à travers le matériau
04et formant des images des matériaux
G01N 23/20
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules), p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes G01N3/-G01N17/201
20en utilisant la diffraction de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher la structure cristalline; en utilisant la diffusion de la radiation par les matériaux, p.ex. pour rechercher les matériaux non cristallins; en utilisant la réflexion de la radiation par les matériaux
G21K 1/06
GPHYSIQUE
21PHYSIQUE NUCLÉAIRE; TECHNIQUE NUCLÉAIRE
KTECHNIQUES NON PRÉVUES AILLEURS POUR MANIPULER DES PARTICULES OU DES RAYONNEMENTS IONISANTS; DISPOSITIFS D'IRRADIATION; MICROSCOPES À RAYONS GAMMA OU À RAYONS X
1Dispositions pour manipuler des particules ou des rayonnements ionisants, p.ex. pour focaliser ou pour modérer
06utilisant la diffraction, la réfraction ou la réflexion, p.ex. monochromateurs
Déposants KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.
PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH
Inventeurs RÖSSL Ewald
Données relatives à la priorité 10187976.5 19.10.2010 EP
Titre
(EN) DIFFERENTIAL PHASE CONTRAST IMAGING
Abrégé
(EN)
The present invention relates to differential phase contrast imaging in particular to a structure of a diffraction grating e.g. an analyzer grating and a phase grating for X ray differential phase contrast imaging. In order to make better use of the X ray radiation passing the object a diffraction grating (14) for X ray differential phase contrast imaging is provided with at least one portion (24) of a first sub area (26) and at least one portion (28) of a second sub area (30). The first sub area comprises a grating structure (54) with a plurality of bars (34) and gaps (36) being arranged periodically with a first grating pitch P G (38) wherein the bars are arranged such that thy change the phase and/or amplitude of an X ray radiation and wherein the gaps are X ray transparent. The second sub area is X ray transparent and wherein the at least one portion of the second sub area provides an X ray 1 transparent aperture (40) in the grating. Portions of the first and second sub areas are arranged in an alternating manner in at least one direction (42).