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1. FR2969762 - SONDE DE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE, SON PROCEDE DE PREPARATION ET SES UTILISATIONS

Office
France
Numéro de la demande 1061038
Date de la demande 22.12.2010
Numéro de publication 2969762
Date de publication 29.06.2012
Numéro de délivrance 2969762
Date de délivrance 08.02.2013
Type de publication B1
CIB
G01Q 20/04
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
20Contrôle du mouvement ou de la position de la sonde
04Sondes auto-détectrices, c. à d. dans lesquelles la sonde génère elle-même un signal représentatif de sa position, p.ex. jauge piézoélectrique
G01Q 60/42
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
42Fonctionnalisation
CPC
G01Q 10/045
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
10Scanning or positioning arrangements, i.e. arrangements for actively controlling the movement or position of the probe
04Fine scanning or positioning
045Self-actuating probes, i.e. wherein the actuating means for driving are part of the probe itself, e.g. piezoelectric means on a cantilever probe
G01Q 20/04
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
20Monitoring the movement or position of the probe
04Self-detecting probes, i.e. wherein the probe itself generates a signal representative of its position, e.g. piezo-electric gauge
G01Q 60/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
42Functionalisation
B82Y 35/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
82NANOTECHNOLOGY
YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
35Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
G01Q 60/38
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
Déposants COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE
Inventeurs POLESEL-MARIS JEROME
BERTHELOT THOMAS
VIEL PASCAL
Données relatives à la priorité 1061038 22.12.2010 FR
Titre
(FR) SONDE DE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE, SON PROCEDE DE PREPARATION ET SES UTILISATIONS
Abrégé
(FR) La présente invention concerne une sonde de microscope à force atomique comprenant (i) un résonateur piézo-électrique muni de deux électrodes et revêtu d'une couche isolante et (ii) une pointe fixée sur ledit résonateur revêtu et fonctionnalisée par au moins un groupement ou une molécule d'intérêt. La présente invention concerne également son procédé de préparation et ses différentes utilisations.
Documents de brevet associés