(EN) In a magnetic field obtaining apparatus, a measuring part (21) that is sufficiently longer than the width of an area to be measured is disposed on a measurement plane that satisfies z = ±, and scanning in an X' direction perpendicular to the longitudinal direction of the measuring part (21) is repeated while changing an angle ¸ formed by a predetermined reference direction on the measurement plane and the longitudinal direction of the measuring part (21) to a plurality of angles. Assuming that x' is a coordinate parameter in the X' direction, measured values f(x', ¸) obtained by repetitions of the scanning are Fourier transformed so as to obtain g(k x' , ¸) (where k x' is a wavenumber in the X' direction). Then, g(k x' , ¸) is substituted into a predetermined two-dimensional potential obtaining equation so as to obtain Æ (x, y, ±) that indicates a two-dimensional potential on the measurement plane. Accordingly, it is possible to perform high-resolution two-dimensional potential measurement as a result of using the measuring part (21) that is sufficiently larger than the width of an area to be measured.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'obtention de champ magnétique. Dans ledit dispositif, une unité de mesure (21), qui est suffisamment longue par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée, est disposée sur la surface de mesure qui satisfait z = α, et, dans la direction X' orthogonale à la direction longitudinale de l'unité de mesure (21), le balayage est répété tout en changeant à plusieurs reprises l'angle θ qui est défini entre une direction de référence donnée sur la surface de mesure et la direction longitudinale de l'unité de mesure (21). Par la suite, une valeur mesurée f(x', θ), qui est obtenue en répétant le balayage, subit une transformée de Fourier, le paramètre de coordonnées dans la direction X' étant défini par x', et g(kx', θ) est obtenu (kx' étant le nombre d'ondes dans la direction X'). Ensuite, en remplaçant (kx', θ) dans une formule donnée d'obtention de potentiel bidimensionnel, ϕ(x, y, α) représentant un potentiel bidimensionnel sur la surface de mesure est obtenu. Ainsi, un potentiel bidimensionnel peut être mesuré à une résolution plus élevée en utilisant l'unité de mesure (21) qui est suffisamment importante par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée.
