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1. EP2544016 - DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'OBTENTION DE POTENTIEL

Office
Office européen des brevets (OEB)
Numéro de la demande 11750653
Date de la demande 01.03.2011
Numéro de publication 2544016
Date de publication 09.01.2013
Type de publication B1
CIB
G01R 33/02
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
02Mesure de la direction ou de l'intensité de champs magnétiques ou de flux magnétiques
A61B 5/055
ANÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
BDIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
5Mesure servant à établir un diagnostic; Identification des individus
05Mesure pour établir un diagnostic au moyen de courants électriques ou de champs magnétiques
055faisant intervenir la résonance magnétique nucléaire ou électronique , p.ex. formation d'images par résonance magnétique
G01N 24/08
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
24Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de la résonance magnétique nucléaire, de la résonance paramagnétique électronique ou d'autres effets de spin
08en utilisant la résonance magnétique nucléaire
G01R 29/14
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
29Dispositions pour procéder aux mesures ou à l'indication de grandeurs électriques n'entrant pas dans les groupes G01R19/-G01R27/165
12Mesure du champ électrostatique
14Mesure de la distribution du champ
G01R 33/10
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
02Mesure de la direction ou de l'intensité de champs magnétiques ou de flux magnétiques
10Tracé par points de la répartition de champ
G01R 33/34
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
20faisant intervenir la résonance magnétique
28Détails des appareils prévus dans les groupes G01R33/44-G01R33/6498
32Systèmes d'excitation ou de détection, p.ex. utilisant des signaux radiofréquence
34Détails de structure, p.ex. résonateurs
CPC
G01N 24/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
24Investigating or analyzing materials by the use of nuclear magnetic resonance, electron paramagnetic resonance or other spin effects
08by using nuclear magnetic resonance
G01R 33/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
10Plotting field distribution ; ; Measuring field distribution
G01R 33/3808
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
38Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
3808Magnet assemblies for single-sided MR wherein the magnet assembly is located on one side of a subject only; Magnet assemblies for inside-out MR, e.g. for MR in a borehole or in a blood vessel, or magnet assemblies for fringe-field MR
G01R 29/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
12Measuring electrostatic fields ; or voltage-potential
14Measuring field distribution
G01R 33/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
Déposants KIMURA KENJIRO
Inventeurs KIMURA KENJIRO
États désignés
Données relatives à la priorité 2010044218 01.03.2010 JP
Titre
(DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG EINES POTENTIALS
(EN) DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING A POTENTIAL
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'OBTENTION DE POTENTIEL
Abrégé
(EN) In a magnetic field obtaining apparatus, a measuring part (21) that is sufficiently longer than the width of an area to be measured is disposed on a measurement plane that satisfies z = ±, and scanning in an X' direction perpendicular to the longitudinal direction of the measuring part (21) is repeated while changing an angle ¸ formed by a predetermined reference direction on the measurement plane and the longitudinal direction of the measuring part (21) to a plurality of angles. Assuming that x' is a coordinate parameter in the X' direction, measured values f(x', ¸) obtained by repetitions of the scanning are Fourier transformed so as to obtain g(k x' , ¸) (where k x' is a wavenumber in the X' direction). Then, g(k x' , ¸) is substituted into a predetermined two-dimensional potential obtaining equation so as to obtain Æ (x, y, ±) that indicates a two-dimensional potential on the measurement plane. Accordingly, it is possible to perform high-resolution two-dimensional potential measurement as a result of using the measuring part (21) that is sufficiently larger than the width of an area to be measured.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'obtention de champ magnétique. Dans ledit dispositif, une unité de mesure (21), qui est suffisamment longue par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée, est disposée sur la surface de mesure qui satisfait z = α, et, dans la direction X' orthogonale à la direction longitudinale de l'unité de mesure (21), le balayage est répété tout en changeant à plusieurs reprises l'angle θ qui est défini entre une direction de référence donnée sur la surface de mesure et la direction longitudinale de l'unité de mesure (21). Par la suite, une valeur mesurée f(x', θ), qui est obtenue en répétant le balayage, subit une transformée de Fourier, le paramètre de coordonnées dans la direction X' étant défini par x', et g(kx', θ) est obtenu (kx' étant le nombre d'ondes dans la direction X'). Ensuite, en remplaçant (kx', θ) dans une formule donnée d'obtention de potentiel bidimensionnel, ϕ(x, y, α) représentant un potentiel bidimensionnel sur la surface de mesure est obtenu. Ainsi, un potentiel bidimensionnel peut être mesuré à une résolution plus élevée en utilisant l'unité de mesure (21) qui est suffisamment importante par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée.