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1. (CN108028757) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION

Office : Chine
Numéro de la demande : 201680047612.3 Date de la demande : 01.07.2016
Numéro de publication : 108028757 Date de publication : 11.05.2018
Type de publication : A
Référence PCT: Numéro de la demande :PCTEP2016065479 ; Numéro de publication : Cliquer pour voir les données
CIB :
H04L 9/32
H04L 9/08
G09C 1/00
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
L
TRANSMISSION D'INFORMATION NUMÉRIQUE, p.ex. COMMUNICATION TÉLÉGRAPHIQUE
9
Dispositions pour les communications secrètes ou protégées
32
comprenant des moyens pour vérifier l'identité ou l'autorisation d'un utilisateur du système
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
L
TRANSMISSION D'INFORMATION NUMÉRIQUE, p.ex. COMMUNICATION TÉLÉGRAPHIQUE
9
Dispositions pour les communications secrètes ou protégées
06
l'appareil de chiffrement utilisant des registres à décalage ou des mémoires pour le codage par blocs, p.ex. système DES
08
Répartition de clés
G PHYSIQUE
09
ENSEIGNEMENT; CRYPTOGRAPHIE; PRÉSENTATION; PUBLICITÉ; SCEAUX
C
APPAREILS À CHIFFRER OU À DÉCHIFFRER POUR LA CRYPTOGRAPHIE OU D'AUTRES FINS IMPLIQUANT LA NÉCESSITÉ DU SECRET
1
Appareils ou méthodes au moyen desquels une suite donnée de signes, p.ex. un texte intelligible, est transformée en une suite de signes inintelligibles en transposant les signes ou groupes de signes ou en les remplaçant par d'autres suivant un système préétabli
Déposants : SECURE-IC SAS
智能IC卡公司
Inventeurs : DAFALI RACHID
R·达法利
DANGER JEAN-LUC
J-L·当热
GUILLEY SYLVAIN
S·吉耶
LOZAC'H FLORENT
F·洛扎克
Mandataires : 永新专利商标代理有限公司 72002
永新专利商标代理有限公司 72002
Données relatives à la priorité : 15306063.7 01.07.2015 EP
Titre : (EN) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
(ZH) 用于物理不可克隆功能的嵌入式测试电路
Abrégé : front page image
(EN) There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts beingphysically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
(ZH) 公开了包括物理不可克隆功能和在线测试电路或嵌入式测试电路的硅集成电路,所述在线测试电路包括与所述PUF物理相邻的一个或多个电路部分,并且所述一个或多个电路体现一个或多个测试,该一个或多个测试被执行以确定所述PUF的一个或多个质量性质或以其他方式表征所述PUF。描述了利用具体相关联的方法步骤的不同测试。
Également publié sous:
KR1020180050276US20180183613WO/2017/001650