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Paramétrages

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1. JP2013512424 - 測定オブジェクトの形状を触覚光学式に決定するための方法および装置

Office
Japon
Numéro de la demande 2012540443
Date de la demande 26.11.2010
Numéro de publication 2013512424
Date de publication 11.04.2013
Numéro de délivrance 5813651
Date de délivrance 02.10.2015
Type de publication B2
CIB
G01B 21/20
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
20pour mesurer des contours ou des courbes, p.ex. pour déterminer un profil
G01B 5/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
G01B 5/20
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
20pour mesurer des contours ou des courbes
G01B 11/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
G01B 11/24
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24pour mesurer des contours ou des courbes
G01B 21/00
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
BMESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
CPC
G01B 5/016
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
5Measuring arrangements characterised by the use of mechanical means
004for measuring coordinates of points
008using coordinate measuring machines
012Contact-making feeler heads therefor
016Constructional details of contacts
G01B 11/007
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
002for measuring two or more coordinates
005coordinate measuring machines
007feeler heads therefor
Déposants ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー
Inventeurs クリストフ、ラルフ
アンドレス、マティアス
シュミット、インゴマー
ヘヒラー、マルクス
ホップ、ベンヤミン
Mandataires 蔵田 昌俊
中村 誠
福原 淑弘
峰 隆司
白根 俊郎
野河 信久
砂川 克
Données relatives à la priorité 102009044673.7 26.11.2009 DE
102009059298.9 23.12.2009 DE
102010016127.6 24.03.2010 DE
Titre
(JA) 測定オブジェクトの形状を触覚光学式に決定するための方法および装置
Abrégé
(JA)

本発明は、座標測定装置内のワークピースの構造および/または形状を、触覚光学式の測定法によって決定するための方法であって、少なくとも1つの方向における接触型プローブ要素の位置を、光学的に横方向に測定する方法で、第1のセンサによって決定し、かつ、少なくとも1つの第2の方向における接触型プローブ要素の位置を、少なくとも1つの距離センサによって決定する方法に関する。複数のセンサによる接触型プローブ要素の誤りのない検出を可能にするために、接触型プローブ要素を保持手段に取り付けるために、第1のセンサの光路によってビーム方向に貫通される少なくとも1つの柔軟な接続要素を使用し、該接続要素は透明であり、および/または第1のセンサに対し大幅に焦点を外して設けられることが提案される。
【選択図】 図4