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1. WO2020155819 - PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION DE DÉFAUTS DANS UN MATÉRIAU BIDIMENSIONNEL ET SON APPLICATION

CN109765206Method for representing defect of two-dimensional material and application thereof
Appl.Date 31.01.2019
N° de demande 201910101478.6 Déposant TSINGHUA UNIVERSITY Type de publication A,B
Inclusion Criteria IC5
Priorité unique au sein de la famille.
Date de publication 17.05.2019
WO/2020/155819METHOD FOR CHARACTERIZING DEFECT IN TWO-DIMENSIONAL MATERIAL AND APPLICATION THEREOF
Appl.Date 27.11.2019
N° de demande PCT/CN2019/121186 Déposant TSINGHUA UNIVERSITY Type de publication A Langue de publication zh
Inclusion Criteria IC1
Demande PCT à l'origine de la famille.
Date de publication 06.08.2020
GB2111896.3
Appl.Date 19.08.2021
N° de demande 2111896.3
Inclusion Criteria IC3
Ouverture de la phase nationale d'une demande PCT introuvable dans PATENTSCOPE.